Рис. 1.

Рис. 1.2.24. Экран компьютера с изображением микроструктуры и результатами обработкиизображения по кадруПрограмма позволяет определять эффективныйдиаметр, площадь, периметр, коэффициентформы частиц, число частиц, параметрыкоторых находятся в рамках допустимых диапазонов(частицы, принимаемые во внимание),процент площади, занимаемой частицами(процент частиц) и гистограммы распределениявычисляемых параметров.Отдельная программа позволяет анализироватьвеличину зерна по ГОСТ 5639.В ОАО «НПО ЦНИИТМАШ” разработанкомпьютерный вариант атласа неметаллическихвключений, в котором неметаллическиевключения классифицированы по составу иметаллографическим признакам.1.2.4. ПРОСВЕЧИВАЮЩАЯ ЭЛЕКТРОННАЯМИКРОСКОПИЯПросвечивающая электронная микроскопия(ПЭМ) является одним из наиболее информативныхметодов исследования микро- исубструктуры материалов, в котором сочетаютсявозможности получения в одном экспериментеизображений с высоким разрешением(вплоть до 0,1 нм, т.е. до разрешения атомнойструктуры) и дифракционных картин одного итого же участка образца (этот участок, какправило, монокристаллический). В ПЭМ используются»быстрые» электроны с энергией100…300 кэВ, распространение которых описываетсякак волновой процесс при длине волныпорядка 10~3 нм, что обеспечивает указаннуювысокую разрешающую способность приизучении структуры. Скорость таких электроновсоставляет десятые доли скорости света, адлина волны, нм, (пренебрегая релятивистскимипоправками)X = \,2 2 5 /у [ и , (1.2.3)где U — ускоряющее напряжение, В.где U — ускоряющее напряжение, В.