15.04.2013 - объектива полностью не используются, есливыше, — невозможно
объектива полностью не используются, есливыше, - невозможно различить тонкие подробностиструктуры объекта.Специальные способы получения изображенияобеспечивают дополнительнуюинформацию о структуре, которую невозможнополучить при обычном освещении шлифа.Эти способы используют, когда возникаетнеобходимость в дополнительной информации....
15.04.2013 - световых участков ослабляется
световых участков ослабляется. Кроме тогопонижается четкость границ между светлымии темными участками изображения. Чембольше шероховатость поверхности, тем хужекачество изображения....
15.04.2013 - изображения
изображения.Хроматическую аберрацию, обусловленнуюразличием преломления света с разнымидлинами волн, сводят к минимуму с помощьюустройства оптической системы и примененияней оптических стекол разного химическогосостава с разными оптическими свойствами.Минимальная аберрация получена применительнов желто-зеленой части спектра видимогосвета....
15.04.2013 - Увеличение иллюминаторас учетом окуляра меняется от
Увеличение иллюминаторас учетом окуляра меняется от х8 до х20посредством рукояти иллюминатора.Разрешающей способностью объективаназывается величина, обратная пределу разрешенияd - минимальному расстоянию междудвумя точками объекта, при котором эти точкиможно различить. Предел разрешенияd = ( 1....
15.04.2013 - 6 — объектив; 7 — шлиф; 8 — светоделительная пластинка
6 - объектив; 7 - шлиф; 8 - светоделительная пластинка; 9 - иллюминатор; 10 - призма; 11 - линза;12 - призмы; 13 - окуляр; 14 - линзы фотообъектива; 15 - светорасщепляющий кубик;1 6 - матовое стекло фотокамерына свстоделительную стеклянную пластинку 8.Эта пластинка отражает часть падающего света,а остальную часть - пропускает. Шлиф 7освещается частью исходного потока, которыйотразился от пластинки 8, прошел через объектив6 и попал на поверхность шлифа....
15.04.2013 - Получение изображений в световоммикроскопе
Получение изображений в световоммикроскопе. Металлы непрозрачны во всемдиапазоне длин волн электромагнитного излучениявидимого света. Поэтому изображениеповерхности твердого металла можно получитьлишь в отраженном свете....
15.04.2013 - разливки металла на качество слитка, оцениватьмакроструктуру
разливки металла на качество слитка, оцениватьмакроструктуру и управлять ею, выбиратьоптимальную технологию в зависимости отиспользуемой оснастки, марки стали и конкретныхусловий разливки, прогнозироватькачество реального слитка на стадии проектированияновой и анализа применяемой технологии,оперативно контролировать качествослитка в процессе его изготовления.1.2 J ....
15.04.2013 - Метод компьютерного моделированияпроцесса затвердевания
Метод компьютерного моделированияпроцесса затвердевания стальных слитков различнойконфигурации и назначения позволяетрассчитывать поля температур и определятьперераспределение элементов в объеме слиткав процессе затвердевания, оценивать конвективныепотоки металла, обнаруживать дефектымакроструктуры и определять их характеристики,такие как объем, форма и глубиназалегания усадочной раковины, расположениеи размеры зоны осевой усадочной пористостив затвердевшем слитке (рис. 1.2....
15.04.2013 - КОМПЬЮТЕРНОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ КАК СПОСОБ КОНТРОЛЯ И УПРАВЛЕНИЯ
КОМПЬЮТЕРНОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ КАК СПОСОБ КОНТРОЛЯ И УПРАВЛЕНИЯ 41Макроанализ изломов. Макроанализэксплуатационных изломов изделий, а такжеизломов образцов после механических испытанийпроводится с целью выявления особенностейстроения поверхностей разрушения иобнаружения дефектов структуры для определенияпричин разрушения. Дефекты в изломахпрокатанного металла выявляют в соответствиис ГОСТ 10243....
15.04.2013 - различаются по химическому составу, и дендритнаяликвация
различаются по химическому составу, и дендритнаяликвация.40 Глава 1.2....
