10.05.2013 - каждый из них выполняет при фрактографиче-ских исследованиях
каждый из них выполняет при фрактографиче-ских исследованиях достаточно важные функции.Предпочтительно использовать ПЭМ приколичественном анализе тонкомасштабныхдеталей микрорельефа, например, усталостныхбороздок в приочаговой области зарожденияусталостного разрушения, т.е....
10.05.2013 - изображения, вносимыми электронным микроскопоми фотопленкой
изображения, вносимыми электронным микроскопоми фотопленкой.Ошибки, вносимые самим прибором визображение, также весьма существенны. Например,воздействие пучка электронов повышеннойплотности на реплику приводит к есперегреву....
10.05.2013 - информацию об особенностях вертикальногорельефа, однако
информацию об особенностях вертикальногорельефа, однако наиболее надежнымметодом воспроизведения и измерениявысоты и глубины является стереоскопическаяфрактография.Для большинства фрактографичсских исследований,проводимых с помощью ПЭМ, и,особенно, связанных с эксплуатационнымиполомками, важно иметь возможность определятьориентировку и расположение видимыхна репликах фрактографичсских деталей поотношению к особенностям строения поверхностимакроизлома (таким, как очаг разрушения,направление магистрального распространенияи...
10.05.2013 - напылительную установку
напылительную установку. На ту сторонупленки, которая повторяет поверхность разрушения,осаждают малое количество паровметалла (палладия или хрома), а затем напыляютболее плотный слой углерода. Палладийили хром используют для того, чтобы оттенитьтонкие детали поверхности и повысить контрастизображения при просмотре реплики вэлектронном микроскопе....
10.05.2013 - электронный микроскоп обеспечиваетсущественно более
электронный микроскоп обеспечиваетсущественно более высокое разрешениемелких деталей, чем растровый электронныймикроскоп (РЭМ), позволяющий вести прямоенаблюдение поверхности разрушения. Использованиереплик особенно важно в тех случаях,когда изучаемая поверхность разрушения расположенана крупной конструкции, резервуареили машине, которые не могут быть доставленыв лабораторию. Известно много способовизготовления реплик толщиной в несколькодесятков нанометров....
10.05.2013 - излома (иластико-угольная реплика)сплава АК4-1 (х635
излома (иластико-угольная реплика)сплава АК4-1 (х635)762 Глава 8.2. МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ ИЗЛОМ ОВ8....
10.05.2013 - излома и укладывается в специальноеприспособление
излома и укладывается в специальноеприспособление, обычно применяемое приоттснении в электронной металлографии, илиприклеивается по краям клейкой лентой настекле таким образом, чтобы поверхность реплики,соприкасающаяся с изломом, была сверху.Затем реплика оттеняется каким-либо металломи может быть установлена для исследованияна оптическом микроскопе (рис. 8 ....
10.05.2013 - Метод реплик можетрекомендоваться тогда, когда деталь
Метод реплик можетрекомендоваться тогда, когда деталь крупная исе невозможно установить на микроскоп илипривезти к месту исследования (как, например,при аварийных исследованиях), а также приисследовании очень грубых поверхностей изломаво избежание порчи объектива.Методом реплик с помощью световогомикроскопа могут быть выявлены: дефектыматериала (поверхностные трещины, окисныеплены, сварочные поры и т.д....
10.05.2013 - предполагается проведение электронно-микроскопическихисследований
предполагается проведение электронно-микроскопическихисследований.При увеличении, получаемом на оптическоммикроскопе, изломы имеют свои характерныеособенности в зависимости от вида иусловий нагружения. Например, характернымидля усталостного разрушения являются относительногладкие микроплощадки (плато) срисунком в виде регулярных полосок (бороздок),по форме этих бороздок и расстояниюмежду ними можно оценить инициирующиеСВЕТОВАЯ М ИКРОФ РАКТОГРАФ ИЯ 759разрушение напряжения, скорость разрушения,изменение напряжений в процессе...