10.05.2013 - гетерогенных материалов с ошибкой менее1 %
гетерогенных материалов с ошибкой менее1 %. Существуют специальные приемы, которыепозволяют успешно применять РФС в качественеразрушающего метода для количественногоанализа химического состава гомогенныхобразцов. Данные о химическом составе получают,сопоставляя интенсивности характеристическихлиний каждого элемента, используяэталоны чистых веществ, градуировочные графики,вводя поправки на упругое рассеяние ипоглощение....
10.05.2013 - излучения с энергией квантов порядка1486,6 и 1253
излучения с энергией квантов порядка1486,6 и 1253,6 эВ для А1- или Mg-излучсния.ЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ ДЛЯ Ф РАКТОГРАФ ИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЙ 769Этот процесс представляет собой фотоэффект:поглощение кванта первичного излучения ииспускание одного фотоэлектрона. Электронныйспектр дает информацию об основныхуровнях в атомах и валентной зоне....
10.05.2013 - Оборудование, которое используется дляэлектронной
Оборудование, которое используется дляэлектронной спектроскопии, представляетсобой сложные высоковакуумные системы,оснащенные управляющей и анализирующейэлектронной аппаратурой и снабженные модулямидля компьютерного управления и обработкиэкспериментальных данных. Обычноеразрежение в рабочей камере спектрометрасоставляет 10" 8 Па. Основными фирмами-изго-товителями приборов для электронной спектроскопииявляются: VG scientific - Fisonsinstruments (Англия); Phisical Electronics(США); Riber (Франция)....
10.05.2013 - высоким пространственным разрешением.Все методы электронной
высоким пространственным разрешением.Все методы электронной спектроскопииможно разделить на две группы. К первойгруппе относятся тс, в которых на поверхностьисследуемых образцов направляетсясфокусированный поток электронов, которыечастично упруго рассеиваются, а частичновозбуждают эмиссию вторичных электронов....
10.05.2013 - с рснтгеноспектральным анализом
с рснтгеноспектральным анализом. Приисследовании микронеоднородностей в объемахтолщиной порядка 1 мкм наиболее приемлемыманализом является рентгеноспектральный.Для изучения более тонких поверхностныхслоев толщиной порядка десятков и сотенангстрем целесообразно использовать фотоэлектроннуюи Оже-спектроскопию....
10.05.2013 - на исследуемый объект, происходит выбиваниеэлектронов
на исследуемый объект, происходит выбиваниеэлектронов из внешних и внутренних орбиталейатомов на поверхности. В аппаратуредля электронной спектроскопии анализируютсякинетическая энергия и количество этихэлектронов. Подобно другим спектроскопическимметодам исследования на основании получаемыхэлектронных спектров возможенкачественный и количественный анализ химическогосостава веществ....
10.05.2013 - слоям методами топографии. Контрольдостоверности осуществляется
слоям методами топографии. Контрольдостоверности осуществляется при сравненииморфологических характеристик, полученныхпо плоским смежным сечениям трехмерногообъекта. Имеются и другие программные средствадля воспроизведения трехмерного изображениярельефа излома, которые, например,интегрированы в микроскопе фирмы "КарлЦейс"....
10.05.2013 - При анализе изломов возможносчитывание изображений
При анализе изломов возможносчитывание изображений с телекамер(с фотоснимков или с оптического микроскопа),с РЭМ и обмен дисками в различных форматах.В результате считывания изображения сРЭМ в памяти компьютера формируется числовоймассив. Пример распечатки изображенийзоны усталостного излома образцов с усталостнымибороздками и с усталостнымимезолиниями, хранящихся в памяти компьютерамикроскопа фирмы «Карл Цейс», представленна рис....
10.05.2013 - представления в двух режимах работы электронного микроскопа
представления в двух режимах работы электронного микроскопа фирмы "Карл Цейс":слева изображение дано во вторичных, а справа - в отраженных электронахРис. 8.2....
10.05.2013 - осуществлять идентификацию элементов материала,начиная
осуществлять идентификацию элементов материала,начиная с бора, по рельефу излома.Специальные системы автоматизированногоанализа спектров при сканировании пучкаэлектронов по поверхности воспроизводят еепо уровням энергии тех элементов, возбуждениерешетки которых формирует рентгеновскийспектр. Типичная информация о составеэлементов материала, полученная в РЭМ споверхности исследования, представлена нарис....
