10.05.2013 - на исследуемый объект, происходит выбиваниеэлектронов

на исследуемый объект, происходит выбиваниеэлектронов из внешних и внутренних орбиталейатомов на поверхности. В аппаратуредля электронной спектроскопии анализируютсякинетическая энергия и количество этихэлектронов. Подобно другим спектроскопическимметодам исследования на основании получаемыхэлектронных спектров возможенкачественный и количественный анализ химическогосостава веществ....

10.05.2013 - слоям методами топографии. Контрольдостоверности осуществляется

слоям методами топографии. Контрольдостоверности осуществляется при сравненииморфологических характеристик, полученныхпо плоским смежным сечениям трехмерногообъекта. Имеются и другие программные средствадля воспроизведения трехмерного изображениярельефа излома, которые, например,интегрированы в микроскопе фирмы "КарлЦейс"....

10.05.2013 - При анализе изломов возможносчитывание изображений

При анализе изломов возможносчитывание изображений с телекамер(с фотоснимков или с оптического микроскопа),с РЭМ и обмен дисками в различных форматах.В результате считывания изображения сРЭМ в памяти компьютера формируется числовоймассив. Пример распечатки изображенийзоны усталостного излома образцов с усталостнымибороздками и с усталостнымимезолиниями, хранящихся в памяти компьютерамикроскопа фирмы «Карл Цейс», представленна рис....

10.05.2013 - представления в двух режимах работы электронного микроскопа

представления в двух режимах работы электронного микроскопа фирмы "Карл Цейс":слева изображение дано во вторичных, а справа - в отраженных электронахРис. 8.2....

10.05.2013 - осуществлять идентификацию элементов материала,начиная

осуществлять идентификацию элементов материала,начиная с бора, по рельефу излома.Специальные системы автоматизированногоанализа спектров при сканировании пучкаэлектронов по поверхности воспроизводят еепо уровням энергии тех элементов, возбуждениерешетки которых формирует рентгеновскийспектр. Типичная информация о составеэлементов материала, полученная в РЭМ споверхности исследования, представлена нарис....

10.05.2013 - подходов стереофотограмметрии.Использование стереопар

подходов стереофотограмметрии.Использование стереопар для воспроизведенияпрофиля усталостных бороздок позволяетвыявлять механизм усталостного разрушения.Специальные методики исследования идругие режимы работы микроскопа упрощаютработу с изломом....

10.05.2013 - следствием, например, процесса разрушенияв результате

следствием, например, процесса разрушенияв результате коррозии под напряжениемили развития трещины по границам зерен врезультате ползучести. Оба процесса сопровождаютсяформированием продуктов окисленияна образуемой поверхности излома, которыене только заряжаются, но около них трудно, ав некоторых случая невозможно, создать высокийвакуум. Поэтому в современных РЭМпредусмотрен низковакуумный режим работы....

10.05.2013 - каждый из них выполняет при фрактографиче-ских исследованиях

каждый из них выполняет при фрактографиче-ских исследованиях достаточно важные функции.Предпочтительно использовать ПЭМ приколичественном анализе тонкомасштабныхдеталей микрорельефа, например, усталостныхбороздок в приочаговой области зарожденияусталостного разрушения, т.е....

10.05.2013 - изображения, вносимыми электронным микроскопоми фотопленкой

изображения, вносимыми электронным микроскопоми фотопленкой.Ошибки, вносимые самим прибором визображение, также весьма существенны. Например,воздействие пучка электронов повышеннойплотности на реплику приводит к есперегреву....

10.05.2013 - информацию об особенностях вертикальногорельефа, однако

информацию об особенностях вертикальногорельефа, однако наиболее надежнымметодом воспроизведения и измерениявысоты и глубины является стереоскопическаяфрактография.Для большинства фрактографичсских исследований,проводимых с помощью ПЭМ, и,особенно, связанных с эксплуатационнымиполомками, важно иметь возможность определятьориентировку и расположение видимыхна репликах фрактографичсских деталей поотношению к особенностям строения поверхностимакроизлома (таким, как очаг разрушения,направление магистрального распространенияи...