16.05.2013 - условная ширина Дд» и условная высота Д// (рис. 12
условная ширина Дд" и условная высота Д// (рис. 12.Н)....
16.05.2013 - Чувствительность метода предполагает способность выявлять
Чувствительность метода предполагает способность выявлять заданные дефекты определенного вида при данной настройке аппаратуры н принятой методике поиска.
Признаками наличия дефектов при УЗК являются:• превышение амплитуды отраженного сигнала при заданном уровне фиксации (при эхо-методе):• ослабление амплитуды прошедшего сигнала ниже заданного уровня (при теневом методе);• ослабление амплитуды сигнала, отраженного от противоположной грани изделия (донного сигнала) или от какого-либо экрана (при зеркально-теневом методе).Все...
16.05.2013 - 12.6.При контактном способе зазор между i шучающей
12.6.При контактном способе зазор между i шучающей плоскостью искателя и поверхностью изделия заполняют контактирующей средой, в качестве которой применяются минеральные масла, солидол, вода, спирт, технический глицерин....
16.05.2013 - При зеркально-теневом методе (рис. 12.5. б) дефект
При зеркально-теневом методе (рис. 12.5....
16.05.2013 - I категория — 20% протяженности шва;П категория -
I категория - 20% протяженности шва;П категория - 5% протяженности шва;111 категория - 2% протяженности шва.
После проявления пленки производится ее оценка по 3-балльиой шкале. Критерии оценки балльности приведены в соответствующей технической документации (правилах контроля, правилах Регистра и т....
16.05.2013 - От выбора фокусного расстояния зависит производительность
От выбора фокусного расстояния зависит производительность контроля и минимальные размеры выявляемого дефекта.Чувствительность контроля определяют визуально как минимальную величину элемента эталона чувствительности, различимую на радиографическом снимке. Эталон чувствительности (рис....
16.05.2013 - Рентгеновское излучение генерируется при торможении
Рентгеновское излучение генерируется при торможении на аноде потока электронов, испускаемых катодом.у-излучение (длина волны 10 .....
16.05.2013 - Наличие в материале дефектов размером ДА-приводит
Наличие в материале дефектов размером ДА-приводит к резкому изменению энергии и интенсивности выходного пучка излучения; выходящий пучок несет дефектоскопическую информацию о внутренней структуре контролируемого материала.Источником излучения могут быть промышленные рентгеновские аппараты или гамма-дефектоскопы, заряженные радиоактивными изотопами.Существуют три метола радиационного коитро....
16.05.2013 - Для контроля поверхностей швов часто пользуются лупой
Для контроля поверхностей швов часто пользуются лупой (возможно выявление поверхностных трещин), иногда применяются эталоны для контроля качества поверхности по цвету.Большое внимание уделяется окончательному контролю. Здесь выявляются поверхностные трещины и раковины, подрезы, свищи, прожоги, натеки, непровары кромок....
