15.04.2013 - разработанной методики для стали любогохимического

разработанной методики для стали любогохимического состава или принята для группысталей близкого химического состава.Применение для измерений СФФ "образцового"метода магнитного насыщения, которыйопирается на естественное и наглядноеистолкование единицы измерения - 1 % феррита,и в котором используются соотношения(1.2....

15.04.2013 - 2.36)Tc = 630 — 12(Cr + Ni) — lOMo — 27Ti — 15Nb

2.36)Tc = 630 - 12(Cr + Ni) - lOMo - 27Ti - 15Nb --23Si - 25A1 - 16V ± 5, (1.2....

15.04.2013 - полях напряженностью порядка 400

полях напряженностью порядка 400......

15.04.2013 - целью обеспечения качества материалов иизделий ответственного

целью обеспечения качества материалов иизделий ответственного назначения, преждевсего их сварных соединений, в атомном,энергетическом и химическом машиностроении.Измерения СФФ при проведении научныхисследований выполняются на стадии разработкиновых материалов, технологическихпроцессов, нормативно-технической документациис целью установления оптимальныхзначений СФФ и его регламентирования, а впроизводственных условиях - с целью определениясоответствия материалов, заготовок иизделий требованиям нормативной...

15.04.2013 - начала мартенситного превращенияпри деформировании

начала мартенситного превращенияпри деформировании.Необходимость контроля СФФ. В зависимостиот назначения сталей аустенитного иаустенитно-ферритного классов требуемыйуровень их технологических и эксплуатационныххарактеристик может обеспечить отсутствиелибо наличие феррита в строго заданныхпределах....

15.04.2013 - е. примерно 0,4.

е. примерно 0,4.....

15.04.2013 - при их кристаллизации в процессе охлажденияиз жидкого

при их кристаллизации в процессе охлажденияиз жидкого состояния при температуре около1400 °С. Феррит имеет объемно-центрированнуюкубическую решетку. При металлографическоманализе выявляется в структуре стали в видеслучайно распределенных в аустснитной матрицемелких частиц неопределенной, чаще вытянутой,формы и различного размера или в виде участковдендритов....

15.04.2013 - 5 — цилиндрический зеркальный энергоанализатор;6

5 - цилиндрический зеркальный энергоанализатор;6 - вторично-электронный умножитель;7 - усилитель; 8 - одноканальный анализатор;9 - измеритель скорости света; 10 - таймер;11- самописецРФЭС позволяет сочетать методы Ожс- ирентгеноэлектронной спектроскопии, посколькуодновременно наблюдаются Оже- и фотоэмиссия,инициированные рентгеновским излучением,и на рентгеноэлектронном спектререгистрируются как фотоэлектронные, так иОже-пики. Сопоставление химических сдвиговдля сходственных пиков позволяет судить оразличиях в начальном и конечном...

15.04.2013 - разрешающая способность фотоэлектронногоспектрометра

разрешающая способность фотоэлектронногоспектрометра зависят от энергораспрсделенияизлучения. Обычно в качестве источника используютмагниевый, алюминиевый, натриевыйили иттриевый анод рентгеновской камеры.Работа рентгеновских монохроматоров,используемых в фотоэлектронных спектрометрах,основана на дифракции рентгеновскоголуча в изогнутом по дуге кристалле....

15.04.2013 - фотоэлектронов, системы управления

фотоэлектронов, системы управления.Структурная схема фотоэлектронногоспектрометра представлена на рис. 1....