15.04.2013 - лучей, отраженных от различных кристаллографическихплоскостей
лучей, отраженных от различных кристаллографическихплоскостей, можно найтиположения в пространстве нормалей к этимплоскостям и, в конечном итоге, определитьориентацию кристалла. С помощью рентгеновскогодифрактометра достаточно легко можноопределить, на какой угол отклоняется данноекристаллографическое направление в кристаллеот данной внешней координатной оси, например,насколько отклоняется направление<001> в перс лопатки газовой турбины от ееоси.В поликристаллическом теле без текстурылучи, отраженные от плоскостей {hkl} в...
15.04.2013 - погрешность счета рентгеновских квантов инестабильность
погрешность счета рентгеновских квантов инестабильность работы аппаратуры, но и наличиетекстуры в материале, большой размерзерна и другие факторы. Вполне достижимаяточность количественного анализа 5.....
15.04.2013 - процесс определение фазового состава.Фазовый анализ
процесс определение фазового состава.Фазовый анализ обычно проводится спомощью съемки дифрактограммы поликри-сталличсского образца. Причем анализируемаяповерхность образца должна быть плоской, асе типичные размеры 1x1 см....
15.04.2013 - материалов является важнейшей научной ипрактической
материалов является важнейшей научной ипрактической задачей. Рентгеноструктурныйанализ позволяет решить эту задачу. Качественныйфазовый анализ предусматривает определениетого, какие фазы содержатся в исследуемомматериале....
15.04.2013 - Двумерные координатные детекторы(ДКД) позволяют сделать
Двумерные координатные детекторы(ДКД) позволяют сделать видимой картинудифракции не только в зависимости от угладифракции 2 0 , но и в тангенциальном направлении,заменяя, таким образом, рентгеновскуюпленку. Современные ДКД представляютсобой CCD-детекторы (Charge-Coupled-Device). В люминофоре детектора, закрытомбериллисвой фольгой, поглощенные РЛ возбуждаютфотоны света, которые с помощьюоптических волокон передаются на CCD-чип....
15.04.2013 - интенсивности, параллельны плоскойповерхности образца
интенсивности, параллельны плоскойповерхности образца. "Отражающие" плоскости(hkl) всегда расположены так, что нормальк ним является биссектрисой угла между падающими "отраженным" лучами. Поэтому принесимметричной съемке (см....
15.04.2013 - регистрации в точке. На экране дисплея компьютераотображается
регистрации в точке. На экране дисплея компьютераотображается график зависимости"число зарегистрированных квантов - уголповорота детектора", и эти же данные запоминаютсяЭВМ в виде соответствующей таблицы.Регистрация в режиме шагового сканированияявляется предпочтительной, так какпозволяет сразу получать исходные данные ввиде, удобном для последующей компьютернойобработки....
15.04.2013 - С целью значительного увеличения (напорядок)
С целью значительного увеличения (напорядок) мощности испускаемого трубкойизлучения разработаны рентгеновские трубки,в которых анод вращается с частотой2000......
15.04.2013 - p HKL — Фактор повторяемости, равныйчислу плоскостей
p HKL - Фактор повторяемости, равныйчислу плоскостей (hkl) в совокупности {hkl};А() = S 0/([ik sin а ) - фактор поглощения -объем, отражающий рентгеновские лучи, гдеS 0 - площадь сечения падающего пучка; Уяч -объем элементарной ячейки кристалла.Получение дифракционной картины.В рентгеноструктурном анализе обычно используютизлучение длиной волны 0,05....
15.04.2013 - через который прошло излучение
через который прошло излучение. Математическиэто выражает закон ослабления интенсивностиизлучения слоем толщиной /:где / 0 и / , - соответственно интенсивностипадающего и прошедшего через материал излучения;ц - линейный коэффициент ослабленияРЛ, обратный толщине слоя, ослабляющегоинтенсивность в е раз. Величина ц зависитот химического состава материала, егоплотности и длины волны излучения....