15.04.2013 - интегральная интенсивностьлиний

где / 222 и Аоо “ интегральная интенсивностьлиний соответственно (222) и (200) феррита.Связь между описанными величинамиобъясняется тем, что штампусмость определяетсяв основном кристаллографической текстурой.Причем к благоприятным ориентировкамзерен параллельно плоскости листа относятбезусловно {111}, а к неблагоприятным -{100}....

15.04.2013 - параметров «тонкой кристаллическойструктуры» (ТКС

параметров "тонкой кристаллическойструктуры" (ТКС) D и е следует учитывать иаппаратурный (инструментальный) источникуширсния максимумов, связанный главнымобразом с расходимостью пучка РЛ и некоторымидругими факторами. Поэтому экспериментальноопределяется интегральная ширинапрофиля В, а не р - ширина "физического"профиля.Применение РСА для контроля технологическихпроцессов....

15.04.2013 - совокупности {hkl}, а непрерывно изменяющимсяот d

совокупности {hkl}, а непрерывно изменяющимсяот d 0 - A d m до d 0 + A d m, гдеAd m - усредненное по всему анализируемомуобъему максимальное изменение мсжплоскост-ного расстояния. Области с измененным d будут,в соответствии с (1.2....

15.04.2013 - Суть метода заключается в том, что дляплосконапряжснного

Суть метода заключается в том, что дляплосконапряжснного состояния деформациявдоль направления, составляющего с осямикоординат углы 1|/ и (р (рис. 1.2....

15.04.2013 - Как следует из уравнения (1.

A d . Как следует из уравнения (1.2....

15.04.2013 - представляет собой ФРО

a / ( g ) представляет собой ФРО.Многие свойства текстурованного материаламогут заметно отличаться от свойств поликристаллабез текстуры. Это объясняется тем,что большинство физических и механическихсвойств являются анизотропными величинами,т....

15.04.2013 - и азимутальный углы во внешней сферическойсистеме

и азимутальный углы во внешней сферическойсистеме координат, причем обычнополагают, что нормаль к поверхности образцахарактеризуется углами а = р = 0. Объемнаядоля зерен, у которых направление нормали кплоскости {hkl} лежит в интервале угловТаким образом, величина р ( а , р) представляетсобой плотность вероятности совпадениянормали к плоскости {hkl} с внешнимнаправлением, характеризующимся углами аи р .Функция р ( а , р) может быть найденапо формулегде / ( а , р) - интенсивность отражения H KL,измеренная при ориентации нормали к...

15.04.2013 - лучей, отраженных от различных кристаллографическихплоскостей

лучей, отраженных от различных кристаллографическихплоскостей, можно найтиположения в пространстве нормалей к этимплоскостям и, в конечном итоге, определитьориентацию кристалла. С помощью рентгеновскогодифрактометра достаточно легко можноопределить, на какой угол отклоняется данноекристаллографическое направление в кристаллеот данной внешней координатной оси, например,насколько отклоняется направление<001> в перс лопатки газовой турбины от ееоси.В поликристаллическом теле без текстурылучи, отраженные от плоскостей {hkl} в...

15.04.2013 - погрешность счета рентгеновских квантов инестабильность

погрешность счета рентгеновских квантов инестабильность работы аппаратуры, но и наличиетекстуры в материале, большой размерзерна и другие факторы. Вполне достижимаяточность количественного анализа 5.....

15.04.2013 - процесс определение фазового состава.Фазовый анализ

процесс определение фазового состава.Фазовый анализ обычно проводится спомощью съемки дифрактограммы поликри-сталличсского образца. Причем анализируемаяповерхность образца должна быть плоской, асе типичные размеры 1x1 см....