15.04.2013 - радиационное и вакуумное воздействиена образец, что

радиационное и вакуумное воздействиена образец, что не позволяет изучать некоторыеобъекты (например, жидкие пробы);затруднения при изучении непроводящихобъектов;отсутствие цветного сигнала.РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ 71а) б)Рис. 1....

15.04.2013 - изучение in situ изменений структурыи состава при

изучение in situ изменений структурыи состава при пластической деформации,усталостных испытаниях, испытаниях на изнашивание,коррозии, термических, электрическихи магнитных воздействиях. Происходящиена поверхности образца изменения регистрируютс помощью ЭЛТ с быстрой разверткойи записывают на видеомагнитофон.Основные преимущества и недостаткиРЭМ....

15.04.2013 - катодолюминесценцию;- фрактография. Благодаря большойглубине

катодолюминесценцию;- фрактография. Благодаря большойглубине фокуса и возможности использованиябольших увеличений, фрактография являетсяважной областью применения РЭМ,позволяя наблюдать и тонкое строение изломов.Главные задачи фрактографи чес когоанализа следующие: контроль качества материала;исследование причин эксплуатационногоразрушения деталей и элементов конструкций;изучение механизма разрушения....

15.04.2013 - Используютследующие методы обработки сигнала:подавление

Используютследующие методы обработки сигнала:подавление постоянной составляющей.Это дает возможность "растянуть" носительинформации - переменную составляющую -на весь видимый диапазон изменения яркостиизображения;усиление узкого диапазона сигнала (нелинейное,или у-усиление), близкого к минимальному.Это позволяет выявить информациюна затененных участках изображения;У-модуляция....

15.04.2013 - объектов возможно, если не допуститьобразования описанного

объектов возможно, если не допуститьобразования описанного выше заряда поверхности.Это можно осуществить тремя способами:1) нанести на поверхность тонкое(10.....

15.04.2013 - как в световой микроскопии, на поверхностишлифа травлением

как в световой микроскопии, на поверхностишлифа травлением создается рельеф. Однако,в связи с большей глубиной фокуса в РЭМ,глубина травления выбирается больше. Продуктытравления (особенно неэлектропроводные)следует удалить....

15.04.2013 - изменение электрических свойств образца

изменение электрических свойств образца.Подготовка образцов для исследованияв РЭМ. Образец по размерам долженсоответствовать камере объектов, чтобы непрепятствовать необходимым перемещениям....

15.04.2013 - ..

.. 1 мкм....

15.04.2013 - Отражения» электронов г\ от атомного номераэлемента

Отражения" электронов г\ от атомного номераэлемента Z68 Глава 1.2. МЕТОДЫ И СРЕДСТВА ИССЛЕДОВАНИЯ СТРУКТУРЫэтой области на порядок больше размера зонда,разрешение изображения в ОЭ составляетоколо 50....

15.04.2013 - поверхности. Наибольшее число электроноввыходит из

поверхности. Наибольшее число электроноввыходит из области выступов, наименьшее -из впадин. Поэтому выступы на изображенииоказываются светлее впадин....