15.04.2013 - линзы, так сильно меняют свою фазуиз-за аберраций

линзы, так сильно меняют свою фазуиз-за аберраций, что интерференция этих лучейне дает правильного изображения атомнойструктуры кристалла.Конструкция и основные режимы работыПЭМ. Оптическая схема микроскопапоказана на рис....

15.04.2013 - ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ 59тенсивность пучка / пр

ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ 59тенсивность пучка / пр , рассеянного образцом:пр о (пучок, идущий за образцомпрямо вниз - см. рис. 1....

15.04.2013 - С этим связаноограничение толщины объекта

С этим связаноограничение толщины объекта. Крометого, процессы поглощения, когда электронытеряют свою энергию, не только вызываютэффект хроматической аберрации, но и могутпривести к нагреву и изменению структурыобъекта и даже его разрушению.Схемы на рис....

15.04.2013 - ПЭМ пока только в 103 раз лучше, чем световогомикроскопа

ПЭМ пока только в 103 раз лучше, чем световогомикроскопа. Это объясняется тем, чтоаберрации электронных линз не удается устранитьтак эффективно, как в световом микроскопе.Уменьшение влияния аберраций возможнопри уменьшении апертуры, однако приэтом увеличивается размытие изображения из-за дифракционных явлений....

15.04.2013 - При U = 100 кВ X = 0,0037 нм, что в 105раз меньше

При U = 100 кВ X = 0,0037 нм, что в 105раз меньше длины волны видимого света.С помощью электромагнитных линзэлектронного микроскопа формируется увеличенноеизображение освещаемого участка,которое создается в основном электронами,упруго (без изменения длины волны) рассеяннымиатомами образца.Главной характеристикой любого методамикроскопии является разрешение т....

15.04.2013 - Рис. 1.

Рис. 1.2....

15.04.2013 - изображений и создания архива

изображений и создания архива.Возможна оптимизация изображения спомощью контраста, яркости, гамма-коррекциии с использованием стандартных редакторовизображения.Предусмотрена уникальная возможностькомпьютерной "склейки" изображенияиз нескольких кадров, что позволяет получатьнеискаженные изображения объектов (областей),не умещающиеся в формате одного кадра,обеспечивая при этом более высокое разрешение....

15.04.2013 - обезуглероженного слоя, толщину покрытийи т

обезуглероженного слоя, толщину покрытийи т.д.);контролировать качество сварных швов;оценивать неоднородность и анизотропиюраспределения фаз и структурных составляющих;проводить металлографический анализметодом сравнения изображений с эталоннымиРис....

15.04.2013 - При проведении микроанализаизображение получают с

При проведении микроанализаизображение получают с помощьюметаллографического микроскопа, а при проведениимакроанализа - с использованием макронасадокк микроскопу, либо непосредственнообъективов к телевизионной камере или цифровомуфотоаппарату. Цифровое изображение вкомпьютере может быть обработано редакторамиизображения с целью повышения его качестваи подвергнуто количественному анализу.Изображение и результаты анализа могут бытьвыведены на экран монитора, принтер или магнитныеи лазерные носители информации....

15.04.2013 - шлифах. Для оценки содержания феррита вГОСТе приведена

шлифах. Для оценки содержания феррита вГОСТе приведена эталонная шкала микроструктур.Наблюдаемая при увеличенияхх280....