15.04.2013 - ПЭМ пока только в 103 раз лучше, чем световогомикроскопа
ПЭМ пока только в 103 раз лучше, чем световогомикроскопа. Это объясняется тем, чтоаберрации электронных линз не удается устранитьтак эффективно, как в световом микроскопе.Уменьшение влияния аберраций возможнопри уменьшении апертуры, однако приэтом увеличивается размытие изображения из-за дифракционных явлений....
15.04.2013 - При U = 100 кВ X = 0,0037 нм, что в 105раз меньше
При U = 100 кВ X = 0,0037 нм, что в 105раз меньше длины волны видимого света.С помощью электромагнитных линзэлектронного микроскопа формируется увеличенноеизображение освещаемого участка,которое создается в основном электронами,упруго (без изменения длины волны) рассеяннымиатомами образца.Главной характеристикой любого методамикроскопии является разрешение т....
15.04.2013 - Рис. 1.
Рис. 1.2....
15.04.2013 - изображений и создания архива
изображений и создания архива.Возможна оптимизация изображения спомощью контраста, яркости, гамма-коррекциии с использованием стандартных редакторовизображения.Предусмотрена уникальная возможностькомпьютерной "склейки" изображенияиз нескольких кадров, что позволяет получатьнеискаженные изображения объектов (областей),не умещающиеся в формате одного кадра,обеспечивая при этом более высокое разрешение....
15.04.2013 - обезуглероженного слоя, толщину покрытийи т
обезуглероженного слоя, толщину покрытийи т.д.);контролировать качество сварных швов;оценивать неоднородность и анизотропиюраспределения фаз и структурных составляющих;проводить металлографический анализметодом сравнения изображений с эталоннымиРис....
15.04.2013 - При проведении микроанализаизображение получают с
При проведении микроанализаизображение получают с помощьюметаллографического микроскопа, а при проведениимакроанализа - с использованием макронасадокк микроскопу, либо непосредственнообъективов к телевизионной камере или цифровомуфотоаппарату. Цифровое изображение вкомпьютере может быть обработано редакторамиизображения с целью повышения его качестваи подвергнуто количественному анализу.Изображение и результаты анализа могут бытьвыведены на экран монитора, принтер или магнитныеи лазерные носители информации....
15.04.2013 - шлифах. Для оценки содержания феррита вГОСТе приведена
шлифах. Для оценки содержания феррита вГОСТе приведена эталонная шкала микроструктур.Наблюдаемая при увеличенияхх280....
15.04.2013 - . .
. .0,0027 мм....
15.04.2013 - между структурными параметрами металлаи его механическими
между структурными параметрами металлаи его механическими и физическими свойствами,разрабатывать новые стали и сплавы,имеющие оптимальный комплекс свойств.С помощью методов количественной металлографииопределяют размеры зерен, расстояниемежду дисперсными выделениями,субграницами, размеры частиц фаз и структурныхсоставляющих, глубину обезуглсро-женного слоя и т.д....
15.04.2013 - регламентирована: чем большедиаметр проката, тем больше
регламентирована: чем большедиаметр проката, тем больше допустимая глубинаобезуглероженного слоя.Исследование причин эксплуатационныхповреждений. При выявлении причин эксплуатационныхповреждений метод световой микроскопииприменяют для исследования изломовразрушенных изделий, а также для металлографическогоанализа микроструктуры зонызарождения трещины, направления и характераее распространения....