15.04.2013 - при изменении фокусного расстоянияпромежуточной линзы

при изменении фокусного расстоянияпромежуточной линзы (от f до f i )уменьшением силы тока в обмотке линзы ивыведении апертурной диафрагмы. В режименаблюдения микроскопического изображения"в светлом поле" апертурная диафрагма устанавливаетсятак, чтобы пропустить прямойпучок и отсечь дифрагированные лучи (см.рис....

15.04.2013 - фокальной плоскости объективнойлинзы, рассеивается

фокальной плоскости объективнойлинзы, рассеивается на нем (см. рис. 1....

15.04.2013 - трехэлектродную электростатическую линзу,фокусирующее

трехэлектродную электростатическую линзу,фокусирующее действие которой имеет своимоптическим аналогом комбинацию собирательнойи рассеивающей линз, а назначением являетсясоздание слабо расходящегося пучка быстрыхэлектронов с одинаковой энергиейЕ = eU , где е - заряд электрона.Двухлинзовый конденсор 2 и линзы собственномикроскопа (объективная линза 5,промежуточная линза 8 и проекционная линза9) являются электромагнитными. Каждая излинз образует отдельный узел с электрическимпитанием соленоида и системой водяного охлаждения....

15.04.2013 - линзы, так сильно меняют свою фазуиз-за аберраций

линзы, так сильно меняют свою фазуиз-за аберраций, что интерференция этих лучейне дает правильного изображения атомнойструктуры кристалла.Конструкция и основные режимы работыПЭМ. Оптическая схема микроскопапоказана на рис....

15.04.2013 - ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ 59тенсивность пучка / пр

ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ 59тенсивность пучка / пр , рассеянного образцом:пр о (пучок, идущий за образцомпрямо вниз - см. рис. 1....

15.04.2013 - С этим связаноограничение толщины объекта

С этим связаноограничение толщины объекта. Крометого, процессы поглощения, когда электронытеряют свою энергию, не только вызываютэффект хроматической аберрации, но и могутпривести к нагреву и изменению структурыобъекта и даже его разрушению.Схемы на рис....

15.04.2013 - ПЭМ пока только в 103 раз лучше, чем световогомикроскопа

ПЭМ пока только в 103 раз лучше, чем световогомикроскопа. Это объясняется тем, чтоаберрации электронных линз не удается устранитьтак эффективно, как в световом микроскопе.Уменьшение влияния аберраций возможнопри уменьшении апертуры, однако приэтом увеличивается размытие изображения из-за дифракционных явлений....

15.04.2013 - При U = 100 кВ X = 0,0037 нм, что в 105раз меньше

При U = 100 кВ X = 0,0037 нм, что в 105раз меньше длины волны видимого света.С помощью электромагнитных линзэлектронного микроскопа формируется увеличенноеизображение освещаемого участка,которое создается в основном электронами,упруго (без изменения длины волны) рассеяннымиатомами образца.Главной характеристикой любого методамикроскопии является разрешение т....

15.04.2013 - Рис. 1.

Рис. 1.2....

15.04.2013 - изображений и создания архива

изображений и создания архива.Возможна оптимизация изображения спомощью контраста, яркости, гамма-коррекциии с использованием стандартных редакторовизображения.Предусмотрена уникальная возможностькомпьютерной "склейки" изображенияиз нескольких кадров, что позволяет получатьнеискаженные изображения объектов (областей),не умещающиеся в формате одного кадра,обеспечивая при этом более высокое разрешение....