Апрель 15th, 2013
фокальной плоскости объективнойлинзы, рассеивается на нем (см. рис. 1.2.27) ипреломляется объективной линзой 5. В результатев задней фокальной плоскости этой линзыформируется дифракционное изображениеобъекта (элсктронограмма). В этой плоскостирасполагается апертурная диафрагма 6.В плоскости 7, где находится селекторная диафрагма,формируется перевернутое и увеличенноепримерно в 100 раз микроскопическоеизображение объекта. Проекционная система8 — 1 0 переносит с увеличением около 1000одно из этих изображений на экран или фотопленку12.Оптическая схема ПЭМ подобна схемесветового микроскопа биологического (просвечивающего)типа, но отличается тем, чтосодержит не две ступени увеличения — «объектив»и «окуляр» (проекционная линза), а три:добавляется «промежуточная» линза, котораяпозволяет легко получить большое увеличение(около 105), достаточное для выполнения юстировкиприбора. Однако, главная функция> ; А *Рис. 1.2.28. Дисперсные выделения карбидов TiC (я, б) и М2С26 (в) в стали 08Х18Н12Т:слева — расположение частиц карбидов, экстрагированных из образца методом реплик,справа — электронограммы от этих частиц62 Глава 1.2. МЕТОДЫ И СРЕДСТВА ИССЛЕДОВАНИЯ СТРУКТУРЫэтой линзы состоит в обеспечении перехода отнаблюдения микроскопического изображенияобъекта к наблюдению дифракционной картиныот заранее выбранной области объекта.Размер этой области задастся селекторнойдиафрагмой. Переход от наблюдения микроскопическогоизображения к наблюдению картиныдифракции («микродифракции») осуществляетсядифракции («микродифракции») осуществляется
