Апрель 15th, 2013
дифракционных методик и анализаэлементного состава в самых малых объемахобразца настолько велики, что метод репликприменяется в тех случаях, когда возникаютбольшие трудности подготовки прозрачногодля электронов объекта.Подготовка объектов для прямого исследования:порошки подвергают диспергированию инаносят на предметную сетку, предварительнопокрытую пленкой-подложкой, либо осаждениемсухого порошка, находящегося во взвешенномсостоянии в воздухе, либо осаждениемиз суспензии. В качестве жидкости для суспензииобычно используют дистиллированнуюводу или этиловый спирт. Наиболее эффективнымиспособами диспергирования порошковявляются распыление суспензии с помощьюструи сжатого газа или применение ультразвука;ПРОСВЕЧИВАЮЩАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ 63тонкие пленки или отдельные частицыполучают конденсацией из пара на пленку-подложку;тонкие оксидные слои или покрытия отделяютот основы путем химического илиэлектролитического растворения последней.При изучении микроструктуры основы оксиднаяпленка может быть использована в качествереплики. В этом случае ее собственная микроструктура(«зернистость») должна быть гораздотоньше микроструктуры сплава. Методоксидных реплик успешно применяется дляизучения структуры сплавов на основе алюминияи никеля;тонкие слои материалов подвергаютрасщеплению (типа слюды);тонкие срезы материалов получают с помощьюультрамикротома — прибора, широкоприменяемого в биологии и снабженного подходящимидля резки исследуемого материаланожами (кромка свежего скола стекла, специальнаяножами (кромка свежего скола стекла, специальная
