Апрель 15th, 2013
и старения при 550 °С, 1,5 ч. Изображение одного и того же места при х22 ООО (а) и х45 ООО (б). Частицыгексагональной фазы №зТ1 (более крупные) видны в основном благодаря ориентационному контрасту,а мелкие частицы выделения кубической фазы N13T1 (сверхрешетка) — благодарядифракционному контрастуанализ фазовых превращений непосред- ния (мартенситные превращения, старение,ствснно при наблюдении в микроскопе в про- кристаллизация аморфных сплавов, рекри-цессе нагрева (охлаждения) или деформирова- сталлизация и др.);РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ 65анализ структуры упорядочивающихсясплавов, определение характеристик доменнойструктуры, выявление ближнего и локальногодальних порядков, определение особенностейструктуры дислокаций и их расположения приналичии ближнего и дальнего порядков.Существует много проблем, решаемыхсовокупным применением методов структурногоанализа (растровая электронная микроскопия,рснтгеноструктурный анализ, световаямикроскопия), где применение ПЭМ весьмаэффективно. К ним относится разработка новыхматериалов и технологий их получения с применениемвысокоэнсргетических воздействий.1.2.5. РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯМИКРОСКОПИЯРастровая электронная микроскопия -один из наиболее универсальных методов изучениямикроструктуры материалов с помощьюсфокусированного узкого пучка быстрых электронов,который обегает заданную площадьобразца.По числу используемых приборов растроваяэлектронная микроскопия опережаетпросвечивающую, а по количеству выполненныхэтим методом фотографий микроструктурыэтим методом фотографий микроструктуры
