Апрель 15th, 2013
изменение электрических свойств образца.Подготовка образцов для исследованияв РЭМ. Образец по размерам долженсоответствовать камере объектов, чтобы непрепятствовать необходимым перемещениям.Другое важное требование к образцу — ондолжен иметь хороший электрический контактс держателем. Часто такой контакт достигаетсяс помощью электропроводящегоклея, которым образец приклеивается к предметномустолику.Если нет хорошего электрического контактамежду поверхностью объекта и заземленнойкамерой образцов, то при многократномсканировании на поверхности накапливаютсяпоглощенные электроны, что приводит кпоявлению заряженных областей. Эти областимогут нерегулярно отклонять зонд и даже значительноизменять электронную эмиссию. Обаэффекта значительно искажают изображение.Проводящие объекты. Металлографический(зеркально полированный) шлиф готовятобычным путем, удаляя затем искаженныйповерхностный слой электролитическим илихимическим полированием. При правильномшлифовании и механическом полированиитолщина искаженного слоя составляет 0,1 мм.Возможно проведение только электролитическогоили химического полирования. Послеэтого с поверхности шлифа удаляют продуктыполирования, промывая его в подходящемрастворителе (обычно в дистиллированнойРАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ 69воде, а затем в этиловом спирте) и используя,если необходимо, ультразвуковую ванну. Такимобразом, препарированный объект пригодендля изучения неоднородности химическогосостава по контрасту изображения в ОЭ.Для изучения микроструктуры так же,Для изучения микроструктуры так же,
