Апрель 15th, 2013
катодолюминесценцию;- фрактография. Благодаря большойглубине фокуса и возможности использованиябольших увеличений, фрактография являетсяважной областью применения РЭМ,позволяя наблюдать и тонкое строение изломов.Главные задачи фрактографи чес когоанализа следующие: контроль качества материала;исследование причин эксплуатационногоразрушения деталей и элементов конструкций;изучение механизма разрушения. Нарис. 1.2.39 показаны полученные в РЭМ изображенияизломов;- изучение рельефа поверхности созданногомеханической обработкой, а также образовавшегосяпри трении;- анализ химической неоднородности,которую можно наблюдать с помощью изображениянетравленных шлифов в ОЭ, Оже-электронах и РИ определенного элемента*.РЭМ позволяет получать как содержание выбранногохимического элемента по любойстроке растра, так и его распределение по всейсканируемой площади (рис. 1.2.40);- изучение изменения кристаллографическойориентировки. Для этого используютэффект каналирования электронов. Применениекомпьютера для анализа картины псевдо-Кикучи линий позволяет определить кристаллографическуюориентировку сканируемогоучастка, периоды кристаллической решетки и,* Все современные РЭМ могут комплектоватьсяприставками для микрорентгеноспектральногоанализа (см. подразд. 1.1.3.4).иногда, различие в концентрации дефектовкристаллического строения разных участковповерхности (разных зерен или субзсрен размеромболее нескольких мкм).Кроме статических наблюдений в РЭМ,оснащенном соответствующими приставкамидля воздействия на образец, возможно динамическоедля воздействия на образец, возможно динамическое
