изучение in situ изменений структурыи состава при

изучение in situ изменений структурыи состава при пластической деформации,усталостных испытаниях, испытаниях на изнашивание,коррозии, термических, электрическихи магнитных воздействиях. Происходящиена поверхности образца изменения регистрируютс помощью ЭЛТ с быстрой разверткойи записывают на видеомагнитофон.Основные преимущества и недостаткиРЭМ. Ниже кратко суммированы те преимуществаРЭМ, которые обеспечили бурное развитиерастровой электронной микроскопии:высокое разрешение изображения рельефаповерхности в ВЭ (5… 100 нм) и, как следствиеэтого, возможность наблюдения микроструктурыпри полезном увеличении, превышающемболее, чем в 20 раз увеличение в световоймикроскопии;большая глубина фокуса в сочетании слегкостью интерпретации изображения в ВЭпозволяет изучать объекты с развитым рельефомповерхности (изломы) при достаточнобольших увеличениях (несколько тысяч раз);простота подготовки объектов (в сравнениис ПЭМ), обеспечивающая высокую производительностьи отсутствие артефактов;быстрое, простое и плавное изменениеувеличения, позволяющее легко проводитьдетальное изучение участка поверхности;возможность анализа элементного составамикрообъемов и использование специальныхметодов создания контраста;возможность изучения динамики процессовнепосредственно при наблюдении;возможность получения изображения вцифровом виде и его компьютерный анализ.В то же время методу растровой электронноймикроскопии присущи и недостатки,из которых следует отметить:невозможность выявлять структурувнутри образца;внутри образца;