Апрель 15th, 2013
радиационное и вакуумное воздействиена образец, что не позволяет изучать некоторыеобъекты (например, жидкие пробы);затруднения при изучении непроводящихобъектов;отсутствие цветного сигнала.РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ 71а) б)Рис. 1.2J8. Микроструктура быстрорежущей стали Р18 в литом состоянии, полученная в ВЭ.Основа — мартенсит + дельта + эвтектоид + ледебуритная эвтектика:а — в центре — дельта; б — в центре — ледебуритная эвтектикаа) б)в)Рис. 1.2.39. Характерные изломы (изображение в ВЭ):а — вязкий излом сплава ХН77ТЮР; б, в — усталостный изломнизкоуглеродистой стали, разное увеличение72 Глава 1.2. МЕТОДЫ И СРЕДСТВА ИССЛЕДОВАНИЯ СТРУКТУРЫа) б) в)Рис. 1.2.40. Микроструктура отливки из ирироднолегированного чу1уна, х400:а — изображение в «поглощенных» электронах (контраст обратен изображению в ОЭ); б, в — изображение тогоже участка в рентгеновском излучении соответственно титана и железа1.2.6. СКАНИРУЮЩАЯТУННЕЛЬНАЯ МИКРОСКОПИЯПервый сканирующий туннельный микроскоп(СТМ) был создан в 1982 г.Интерес к СТМ объясняется его уникальнымразрешением, позволяющим проводитьисследования на атомном уровне. Приэтом для работы микроскопа не требуется высокийвакуум в отличие от электронных микроскоповдругих типов. Он может работать навоздухе и даже в жидкой среде.С помощью СТМ можно выявить особенностикристаллического строения поверхностиразличных материалов, определить параметр еешероховатости с нанометровым разрешением,наблюдать закономерности образования зародышейпри выращивании пленок и т.
