Апрель 15th, 2013
интенсивности, параллельны плоскойповерхности образца. «Отражающие» плоскости(hkl) всегда расположены так, что нормальк ним является биссектрисой угла между падающими «отраженным» лучами. Поэтому принесимметричной съемке (см. рис. 1.2.47) онинаклонены к плоскости образца под углом0 — а (при а < 0 ) или 0 — 8 (при 8 < 0 ).На рис. 1.2.51, а представлена дифракто-грамма, полученная в режиме шагового сканирования.График, показанный на рис. 1.2.51, бдля одного дифракционного максимума, называетсяпрофилем дифракционной линии HKL(получена при «отражении» РЛ от одной совокупностиплоскостей {hkl}) и характеризуетсяследующими параметрами: интегральной интенсивностью( I hkl )* пропорциональнойплощади, ограниченной профилем линии/7(20)/ и линией фона I I от 20н до 20к ;интегральной шириной В, равной отношению1 hkl к интенсивности линии в максимуме;абсциссой центра тяжести профиля ( 20ц т ),которая показывает угловое положение дифракционногомаксимума.Наряду с точечными детекторами (одновременноеизмерение числа рентгеновскихквантов при данном угле 20 , т.е. в одной точкедифракционного спектра) используются координатныедетекторы. Линейные координатныедетекторы позволяют регистрировать одновременноинтенсивность, рассеянную в определенномугловом диапазоне (до 100° в 20 ) с угловымразрешением около 0,1° (в 20 ). Они значительноускоряют регистрацию дифракционнойкартины, но не могут применяться длярегистрации большой интенсивности, частонаблюдаемой при использовании в качествеисточника РЛ синхротронного излучения.источника РЛ синхротронного излучения.
