Апрель 15th, 2013
лучей, отраженных от различных кристаллографическихплоскостей, можно найтиположения в пространстве нормалей к этимплоскостям и, в конечном итоге, определитьориентацию кристалла. С помощью рентгеновскогодифрактометра достаточно легко можноопределить, на какой угол отклоняется данноекристаллографическое направление в кристаллеот данной внешней координатной оси, например,насколько отклоняется направление<001> в перс лопатки газовой турбины от ееоси.В поликристаллическом теле без текстурылучи, отраженные от плоскостей {hkl} в различныхзернах, распространяются вдоль коническойповерхности с осью, совпадающей с прошедшимпучком и углом при вершине 40 (см.рис. 1.2.48), где 0 = Qhkl — угол дифракции длядифракционного максимума H K L , Н = nh,К = п к , L = n ly где п — порядок отражения.Таким образом, дифракционное отражениеHKL на плоском экране, расположенном перпендикулярнопадающему лучу, представляетсобой окружность (дебасвское кольцо) с однороднымраспределением интенсивности.В случае преимущественной ориентациизерен в поликристалле это распределение интенсивностибудет неоднородным, вплоть доприсутствия лишь нескольких точечных рефлексовна воображаемом дсбаевском кольцеили даже их отсутствия. Относительная интенсивностьлиний на дифрактограммс текстури-рованного материала может сильно отличатьсяот относительной интенсивности линий надифрактограмме бестекстурного образца.Обычно ориентацию плоскости {hkl} втекстурированном материале описываютфункцией распределения полюсной плотностир ( а , р ) , где а и р — соответственно радиальныйр ( а , р ) , где а и р — соответственно радиальный
