Апрель 15th, 2013
совокупности {hkl}, а непрерывно изменяющимсяот d 0 — A d m до d 0 + A d m, гдеAd m — усредненное по всему анализируемомуобъему максимальное изменение мсжплоскост-ного расстояния. Области с измененным d будут,в соответствии с (1.2.11), давать дифракционныймаксимум под углом 0 , отличным отисходного угла 0 О. А так как d меняется непрерывно,то кристалл будет «отражать» в угловомдиапазоне 0 О ± A0W, т.е. интегральнаяширина максимума р возрастет. Продифференцировавуравнение (1.2.11), получимгде е = A dcp/ d 0 — средняя микродеформация,причем Ad cp — среднее изменение меж-плоскостного расстояния в анализируемомобъеме, а р измеряется в углах поворота детектора,т.е. в углах 20. Интервал значений е,поддающийся измерению по ширине профиля,составляет от 2-10 до 10“2. Если связать микродеформациис дислокациями плотностью р ,то получимгде b — вектор Бюргсрса дислокаций.По ширине дифракционного максимумаможно анализировать плотность дислокаций винтервале 109… 1012 см-2.Еще одним источником уширсния можетбыть измельчение частиц (блоков). В этомслучаегде X — длина волны используемых PJl; D -средний по анализируемому объему размерблоков вдоль нормали к «отражающей «плоскости.Интервал D , вызывающий измеримоеуширенис максимума составляет 0,005…0,2 мкм.При регистрации профиля линиидля расчетаПри регистрации профиля линиидля расчета
