Апрель 15th, 2013
параметров «тонкой кристаллическойструктуры» (ТКС) D и е следует учитывать иаппаратурный (инструментальный) источникуширсния максимумов, связанный главнымобразом с расходимостью пучка РЛ и некоторымидругими факторами. Поэтому экспериментальноопределяется интегральная ширинапрофиля В, а не р — ширина «физического»профиля.Применение РСА для контроля технологическихпроцессов. РСА широко используетсяв научных исследованиях для определенияфазового состава материалов, атомнойструктуры фаз, характеристик текстуры и пр.Получение детальной информации о структурномсостоянии материалов обычно требуетпроведения достаточно длительных исследований.Однако, в ряде случаев для определенияважных с практической точки зрения характеристиквозможно использование экспрессных88 Глава 1.2. МЕТОДЫ И СРЕДСТВА ИССЛЕДОВАНИЯ СТРУКТУРЫметодов, которые могут быть применены впромышленности для контроля технологическихпроцессов.Ряд методов основан на установленныхэмпирических связях между контролируемой вданном технологическом процессе величинойи параметрами дифракционных линий материала.Например, существуют методы контроляштампуемости листовой низкоуглеродистойстали и технологической пластичности сталей.Первый метод позволяет определить факторнормальной пластической анизотропии R сточностью около 5 % по уравнениюточностью около 5 % по уравнению
