Май 10th, 2013
с рснтгеноспектральным анализом. Приисследовании микронеоднородностей в объемахтолщиной порядка 1 мкм наиболее приемлемыманализом является рентгеноспектральный.Для изучения более тонких поверхностныхслоев толщиной порядка десятков и сотенангстрем целесообразно использовать фотоэлектроннуюи Оже-спектроскопию. Спектроскопиярассеянных медленных ионов позволяетисследовать структуру и состав монослой-ных поверхностных покрытий. Нарушениеэтих принципов, основанных на физике взаимодействияизлучения с веществом, в практикеприменения различных методов анализа вызываетметодические трудности и ошибки в трактовкеполученных результатов.Эмиссионные полосы, наблюдаемые наэлектронных спектрах, являются результатомэлектронных переходов на различные электронныеуровни в атомах. Фотоэлектроннаяспектроскопия высокого разрешения, изучающаятонкую структуру полос, дает возможностьопределить электронную структуру,природу химических связей — важнейшие характеристикихимии поверхности. Методыэлектронной и ионной спектроскопии обладаютуникальным глубинным разрешением ипозволяют анализировать тончайшие поверхностныеслои. Это преимущество выделяет ихсреди других методов спектрального анализа.Ограничения электронно-эмиссионных способовисследования в случае образцов неоднородногосостава привели к созданию методов ссостава привели к созданию методов с