Июнь 18th, 2013
Подобно тому как дефекты кристаллической решетки классифицируются по протяженности, сравниваемой с межатомными расстояниями, сверхпроводящие неоднородности можно также различать, сравнивая их протяженность с расстоянием между флюксоидами d [48, 49].К точечным дефектам с размерами, большими d, относятся небольшие частицы второй фазы, мелкие поры и скопления кристаллических дефектов, подобных кластерам, образующимся при облучении частицами с высокими энергиями. Размер точечного дефекта допускает его взаимодействие одновременно только с одним флюксоидом.К линейным дефектам, один из размеров которых больше d, относятся главным образом дислокации. Взаимная ориентация флюксоида и дефекта важна при определении силы взаимодействия.К плоским дефектам, два линейных размера которых больше d, относятся границы зерен и двойников, скопления дефектов, мартенситные границы, такие виды кристаллических дислокаций, как субзеренные и полигонизационные границы, и поверхность самого сверхпроводника. Взаимная ориентация флюксоида и плоскости дефекта также может иметь важное значение.К объемным дефектам с тремя линейными размерами, большими d, относятся крупные частицы второй фазы и поры. Каждый такой дефект может взаимодействовать с несколькими флюксоидами. Важно отметить, что при сильных полях, достижимых в материалах, большинство частиц второй фазы может быть отнесено к объемным дефектам.Для трех важнейших групп материалов проведено сравнение измеренных сверхпроводящих свойств с наблюдаемой микроструктурой. Такие объемные дефекты, как выделения и искусственно введенные частицы второй фазы, изучены в сплавах на основе свинца; дислокации, двойники и влияние внедренных элементов (С, N, О) —в ОЦК-металлах и сплавах; границы зерен и внутризеренные выделения — в соединениях А15. Влияние радиационных повреждений изучено для всех трех групп материалов.
