массой 1012 г), погрешность ее при определениифазового

массой 10“12 г), погрешность ее при определениифазового состава не менее погрешностирентгенографии и равна 1...5 %.Важной областью использования дифракцииэлектронов является изучениеаморфных веществ, в которых атомы не упорядоченырегулярным образом (отсутствуетдальний порядок). Электронограммы отаморфных пленок не содержат выраженныхрефлексов, а представляют собой размытыесферически симметричные гало. В результатеФурье-анализа зависимости рассеянных электроновот угла рассеяния получают функциюрадиального распределения атомов (ФРР). Этафункция (рис. 1.2.56), характеризуя вероятностьвстречи с атомами того или иного типа,находящимися на некотором расстоянии г отрасчетного, дает информацию о структуреближнего порядка, имеющего место в аморфныхвеществах (межатомных расстояниях,среднем числе ближайших соседей, среднемугле). Максимумы соответствуют расстояниямРис. 1.2.56. Функция радиального распределениядля аморфной пленки диоксида титанаЭЛЕКТРОННАЯ И РЕНТГЕНОВСКАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ 93до соседних атомов «первой очереди» (ближайших),»второй очереди» и т.д. По значениямплощади под максимумом можно рассчитатьчисло соседей.1.2.9. ЭЛЕКТРОННАЯ ОЖЕ-СПЕКТРОСКОПИЯИ РЕНТГЕНОВСКАЯ ФОТОЭЛЕКТРОННАЯСПЕКТРОСКОПИЯСведения о таких фундаментальныхсвойствах поверхности, как состав, атомная иэлектронная структуры, получают методами,электронная структуры, получают методами,