Апрель 15th, 2013
ное расстояние эталонного вещества, нм.Затем измеряют диаметры дифракционныхколец на элсктронограммах (от образцов ввиде тонких пленок и слоев) или радиусы этих92 Глава 1.2. МЕТОДЫ И СРЕДСТВА ИССЛЕДОВАНИЯ СТРУКТУРЫколец на электронограммах (от массивныхобразцов). Для этого используют обычнуюлинейку (точность до 0,1…0,2 мм) или компаратор(точность до 0,01 мм). Центром дифракционныхколец является след центральногоэлектронного пучка в виде ямки на фотоэмульсиии черной точки. Можно определятьцентр с помощью шаблонов (набора колец илиполуколец на прозрачной пластине с радиусами,вычисленными для различных межплоско-стных расстояний d при известной постояннойприбора) или координатным методом. Далеевычисляют межплоскостные расстояния d ,соответствующие значениям диаметров илирадиусов по формулегде L, D — в мм, а X — в нм; п — порядок дифракции(порядковый номер кольца).Возможен более точный расчет величиныd.Интенсивность дифракционных линийопределяется либо визуальной относительнойоценкой, либо фотометрированием. При этомследует учитывать неравномерность распределенияинтенсивности фона на электронограммах(фон особенно интенсивен в областицентрального пятна, и некоторые кольца сильнойинтенсивности, попавшие в эту область,могут быть не обнаружены или иметь слабуюинтенсивность). В таких случаях следует дляинтенсивность). В таких случаях следует для
