Апрель 15th, 2013
Суть метода заключается в том, что дляплосконапряжснного состояния деформациявдоль направления, составляющего с осямикоординат углы 1|/ и (р (рис. 1.2.52), равнагде стф — макронапряжения вдоль направления,составляющего угол ф с Gj (рис. 1.2.52).Определяя исходное положение (vj/,(p)одного и того же дифракционного максимумаРЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ 87Рис. 1.2.52. Схема съемки на дифракгометрепри анализе макронапряженийHKL при различных углах Vj/ (поворот вокругоси гониометра О (см. рис. 1.2.48), отклонение отсимметричного положения а = 8 = 0 , при котором\|/ = 0), находят d y ф по формуле (1.2.11)и затем определяют 8 = ф — d 0) /d 0 . Далеестроят зависимость s y ф от sin2 \j/ и по отсекаемомуна оси ординат отрезку находят изформулы (1.2.19) CTj +ст2 , а по наклону прямой- стф .Для нахождения распределения напряженийпо глубине применяют послойный анализ,предусматривающий постепенное удаление(обычно электрохимическое) поверхностногослоя детали. В некоторых случаях приописании напряженного состояния поверхностногослоя детали необходимо учитыватьнапряжение ст3 , в других — требуется учетизменения напряжений по толщине анализируемогослоя.Рентгеновский анализ микродеформацийрешетки. Неоднородные микродеформациихарактеризуются неодинаковым по всему объемумежплоскостным расстоянием d 0 для плоскостеймежплоскостным расстоянием d 0 для плоскостей
