Апрель 15th, 2013
д.Принцип работы сканирующего туннельногомикроскопа для исследованияструктуры поверхности материала или шлифа,основанный на использовании в качестве инструментаизмерения туннельного тока, былсформулирован в начале XX в. после открытияосновных положений квантовой механики.По своей природе электрон обладает какволновыми, так и корпускулярными свойствами.Его поведение описывается с помощьюуравнения Шрсдингера — волновой функции,квадрат модуля которой характеризует плотностьвероятности нахождения электрона вданной точке пространства в данный моментвремени.Расчеты показывают, что волновыефункции электронов в атоме отличны от нуляи за пределами сферы, соответствующей эффективномупоперечному сечению атома (размеруатома). Поэтому при сближении атомовволновые функции электронов перекрываютсяраньше, чем начинает существенно сказыватьсядействие межатомных сил отталкивания.Появляется возможность перехода электроновот одного атома к другому. Таким образом,возможен обмен электронами и между двумятелами, сближенными без соприкосновения,т.е. без механического контакта.Для обеспечения направленного движенияэлектронов (электрического тока) междутакими телами необходимо выполнение двухусловий:у одного тела должны быть свободныеэлектроны (электроны проводимости), а у другого- незаполненные электронные уровни,куда могли бы перейти электроны;между телами требуется приложить разностьпотенциалов, и ее значение несоизмеримомало по сравнению с тем, которое требуетсядля получения электрического разряда придля получения электрического разряда при
