Апрель 15th, 2013
максимума ( M B = B N = d hkl sin 9 ) следующее:2 d hkls \n § = n X . (1.2.11)Соотношение (1.2.11) называется уравнениемВульфа — Брэгга и показывает направлениемаксимума интенсивности PJ1, рассеянныхплоскостями (hkl) кристалла.Угол между продолжением падающеголуча FQ и направлением на максимум интенсивностиBP (Z PBQ) равен 29. Это справедливои в том случае, когда падающий и рассеянныйлучи образуют разные углы а и 8 споверхностью образца (несимметричная съемка)(рис. 1.2.47), причем а + 8 = 2 9 .Большинство технических материаловявляются поликристаллами, т.е. состоят измножества малых кристаллов — зерен, хаотически(если нет текстуры) ориентированных впространстве. Поэтому рентгеновские лучи,рассеянные плоскостями (hkl) в каждом зернеРис. 1.2.46. К выводу условия формированиядифракционного максимума:(hkl)- индексы отражающих кристаллографическихплоскостей; F — источник РЛ; А, В -точки рассеянияпадающих лучей 1 и 2; Р — точка регистрациирассеянных лучей; Q — точка, лежащая за образцомна продолжении падающего лучаРЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ 81Рис. 1.2.47. Схема хода лучей принесимметричной съемке (см. рис. 1.2.46)в соответствии с уравнением ( 1 .2 . 1 1 ), будутобразующими конуса с углом раствора 40 -конуса Дебая (рис. 1.2.48), так как условие(1.2.11) выполняется только для таких ориентацийплоскостей (hkl) в пространстве, которыеполучаются вращением одной плоскостивокруг падающего на поликристалл пучка FO.Рентгеновские лучи поглощаются в веществетем сильнее, чем больше толщина слоя,тем сильнее, чем больше толщина слоя,
