Апрель 15th, 2013
ПЭМ пока только в 103 раз лучше, чем световогомикроскопа. Это объясняется тем, чтоаберрации электронных линз не удается устранитьтак эффективно, как в световом микроскопе.Уменьшение влияния аберраций возможнопри уменьшении апертуры, однако приэтом увеличивается размытие изображения из-за дифракционных явлений. Оптимальная апертураобъектива в ПЭМ оказывается около10-2… 10-3 рад, т.е. на несколько порядковменьше апертуры светового микроскопа. Темне менее малой апертурой объясняется важноепреимущество ПЭМ перед световой микроскопией- очень большая глубина фокуса изображения.Разрешаемое расстояние современныхэлектронных микроскопов высокого разрешениядостигает 0,2…0,3 нм, что достаточно дляполучения изображения решетки кристаллическихобъектов.Контраст изображения в ПЭМ. Возможностисоздания контраста в изображенииразных элементов структуры объекта оказываютсяособенно большими в случае кристаллическихобъектов благодаря дифракции электроновна кристаллической решетке. В связи сособой ролью дифракции в формированииизображения кроме термина «просвечивающаяэлектронная микроскопия» часто применяюттермин «дифракционная электронная микроскопия».Образование контраста в ПЭМ как кристаллических,так и некристаллических(аморфных) объектов обусловлено процессамирассеяния электронов при их прохождениичерез вещество, т.е. изменением направлениядвижения электронов без изменения их скорости(упругое рассеяние). Электроны в значительнобольшей степени, чем рентгеновскиелучи, взаимодействуют с атомами.