Апрель 15th, 2013
сталь, алмазный инструмент). Так изучаютсрезы синтетических волокон, минералов,пористых катализаторов. Для металлов этотметод мало пригоден из-за их высокой пластичностии искажений вследствие этого структурыв результате деформирования при резке;тонкие фольги металлов, полупроводникови других материалов получают утонениемобразцов методами, не оказывающими влиянияна структуру материала. Подготовка объектасостоит из нескольких этапов: первоначальнойрезки на небольшие кусочки (площадьопределяется объектодержателем) толщиной1 мм на установках типа «Микротом»; ручногошлифования до достижения толщины 0,1…0,15 мм и окончательного утонения электро-полированием. Методу тонких фольг отдаюта)предпочтение при применении ПЭМ для исследованияметаллов, полупроводников и керамическихматериалов.Основные области применения ПЭМ.Из указанных выше случаев формированияизображения главным в современной практикеявляется дифракционный амплитудный контраст.Дифракционная природа контраста визображении кристаллических объектов определяетнаиболее эффективные области примененияПЭМ: анализ разного рода нарушенийкристаллической структуры, анализ элементовмикроструктуры высокой дисперсности, различающихсяпо кристаллической структуреили только по кристаллической ориентации.Основные области использования методаПЭМ:изучение зеренной структуры материалов,включая исследования субмикронных и нанок-ристаллических материалов, исследование границзерен, процессов рекристаллизации;изучение взаимодействия дефектов кристаллическогоизучение взаимодействия дефектов кристаллического
