Апрель 15th, 2013
точно известно.Рис. 1.1.4. Зависимость относительнойинтенсивности рентгеновского излученияхимических элементов от энергииПри этом K j = / 1/ 2 /3 С /, где С, — масс,доля /-го элемента в анализируемом объеме;/ — поправки на различие в образце и эталоне:среднего атомного номера (/J), коэффициентапоглощения РИ /-го элемента (/>), на увеличение//обр за счет флуоресцентного возбужденияРИ /-го элемента РИ других элементов,содержащихся в анализируемом объеме образца(/з). Значения поправок рассчитывают поспециальной программе с помощью компьютера,входящего в комплект прибора, и получаютзначения С/ по измеренным значениямKj. Все современные приборы комплектуютсяэталонами (на 10…30 элементов) и программойрасчета концентраций элементов по измереннымзначениям K t для всех основныхэлементов, содержащихся в анализируемомобъеме.Для количественного анализа распределения/-го элемента по площади образца необходимопровести измерения во всех интересующихточках. Однако качественную информациюо распределении /-го элемента по площадиможно получить, если настроить спектрометрна регистрацию аналитической линииэтого элемента и использовать сигнал детекторадля модуляции яркости свечения экранаЭЛТ. Таким путем получается изображениераспределения /-го элемента по сканируемойплощади с разрешением около 1 мкм.Возможно также движение зонда по выбраннойстроке растра по вертикали, это наэкране ЭЛТ дает изображение интенсивностиРИ /-го элемента, что позволяет получить по-луколичественную информацию.Подготовка объектов для анализа вПодготовка объектов для анализа в
