Апрель 15th, 2013
толщина объекта должна быть очень малой.Например, для веществ, состоящих из элементовПериодической системы с Z = 25...45(сплавы на основе железа и меди), и микроскоповс ускоряющим напряжением 100 кВпрозрачные для электронов объекты имеюттолщину порядка 0,1 мкм.Объектодержатель рассчитан на установкуобразца, поперечные размеры которого недолжны обычно превышать 2…3 мм. Образецможет иметь вид диска диаметром около 3 мми толщиной по краю до 0,5 мм, а в центральнойчасти должен иметь участки толщинойоколо 0,1 мкм. Вместо предметных диафрагм-дисков для установки объектов можно использоватьметаллические сетки (медные или никелевыес числом ячеек около 8 на 1 мм).Вследствие ограничения толщины объекта,с одной стороны, и большого разнообразияподлежащих исследованию материалов, с другой,применяют различные приемы препарированияобразцов.Существует несколько методов исследования:прямой — исследование достаточно тонкихпленок или высокодисперсных частиц;косвенный — приготовление и изучениепрозрачного для электронов отпечатка — реплики,воспроизводящей рельеф поверхностиобъекта (шлиф после травления, излом и т.д.);полупрямой (см. рис. 1.2.28) — исследованиереплики «с извлечением» для анализагстсрофазных материалов. В этом случае дисперсныечастицы, выступающие над поверхностьюпротравленного шлифа, обволакиваютсяматериалом реплики и отделяются вместес ней. По отношению к этим частицам методреплик оказывается прямым.Возможности современной электронноймикроскопии в отношении разрешения, использованиямикроскопии в отношении разрешения, использования
