Май 10th, 2013
Анализ протяженной тонкой структуры спектровпотери энергии рассеянных электронов(EELFS), в том числе Оже-электронов(EELFAS), является новейшим и развивающимсяметодом исследования пространственногораспределения атомов различного сортана поверхности. Он позволяет определить нетолько сорт атомов, но и длины химическихсвязей в ближайшем атомном окружении наповерхности в пределах нескольких координационныхсфер. Этот метод по праву конкурируетс дифракционными, поскольку позволяетв слоях толщиной в несколько десятков ангстремопределить сорт атомов и межатомныерасстояния с точностью до 0 , 2 А.Спектроскопия высокого разрешенияэнергетических потерь электронов (С П Э В Р ).Спектроскопия высокого разрешения, исследующаяпотери энергии медленных электронов(EELS), становится одним из весьма полезныхметодов для фундаментальных исследованийфизических и химических явлений наповерхности.Одна из наиболее важных особенностейСПЭВР связана с высокой поверхностной чувствительностью,позволяющей определятьвибрационные энергии адсорбированных атомови молекул при их концентрации ниже0 , 0 0 1 монослоя ( 1 монослой = 1 0 15 атомов на1 см2), а также идентифицировать центры адсорбции,устанавливать структуру поверхностии ближайшее атомное окружение. По сравнениюс ОЭС, случайное загрязнение поверхностиограничивает возможности этого метода,ограничивает возможности этого метода,
