Май 10th, 2013
электронный микроскоп обеспечиваетсущественно более высокое разрешениемелких деталей, чем растровый электронныймикроскоп (РЭМ), позволяющий вести прямоенаблюдение поверхности разрушения. Использованиереплик особенно важно в тех случаях,когда изучаемая поверхность разрушения расположенана крупной конструкции, резервуареили машине, которые не могут быть доставленыв лабораторию. Известно много способовизготовления реплик толщиной в несколькодесятков нанометров. Наилучшая точностьвыявления микрорельефа достигается в случаеизготовления реплики в окончательном виденепосредственно на поверхности разрушения.Такая реплика называется прямой, или одноступенчатой.Однако данный способ оченьчасто влечет за собой разрушение исследуемойповерхности, поскольку освобождение репликиосуществляется путем химического илиэлектрохимического воздействия на металл.В связи с этим в лабораторных исследованияхболее широко используют технологию приготовлениядвухстадийных (двухступенчатых) имногостадийных реплик. Фотографическуюили рентгеновскую пленку на нитроосновеочищают от эмульсионного слоя, размягчают вацетоне (если основа пленки другая, то и растворительтоже иной), прижимают к изломуобразца и выдерживают до затвердевания.После полного затвердевания пленка легкоотделяется от излома и помещается в вакуумнуюотделяется от излома и помещается в вакуумную
