Май 10th, 2013
изображения, вносимыми электронным микроскопоми фотопленкой.Ошибки, вносимые самим прибором визображение, также весьма существенны. Например,воздействие пучка электронов повышеннойплотности на реплику приводит к есперегреву. При этом выявляется зернистаяструктура оттеняющего материала. Контрастностьизображения в значительной степенизависит от ускоряющего напряжения в электроннойпушке. Время нахождения реплики вканале микроскопа влияет на степень ес загрязнения.Большая глубина резкости электронногомикроскопа в сравнении с оптическимможет иногда привести исследователя кошибочным выводам при интерпретации картинодного и того же участка усталостнойтрещины, поскольку в оптическом микроскопетакая трещина может просматриваться весьмаотчетливо, а на электронном микроскопе ее небудет видно. В отдельных случаях изображение,изучаемое в ПЭМ, «скрывает» значительнуючасть полезной информации вследствиенеудачного выбора углов оттенения и напыленияили в силу особой «неудобной» ориентациитонкомасштабных деталей на поверхностиразрушения. Использование в микроскопегониометра, позволяющего осуществлять наклонобъекта в широких пределах, оказываетсяв таких случаях весьма полезным.ПЭМ имеет свои преимущества и недостаткив сравнении с РЭМ или световым микроскопом.Ни один из них не перекрывает полногодиапазона возможностей другого и при этомдиапазона возможностей другого и при этом
