каждый из них выполняет при фрактографиче-ских исследованиях

каждый из них выполняет при фрактографиче-ских исследованиях достаточно важные функции.Предпочтительно использовать ПЭМ приколичественном анализе тонкомасштабныхдеталей микрорельефа, например, усталостныхбороздок в приочаговой области зарожденияусталостного разрушения, т.е. на начальнойстадии распространения усталостных трещин,когда шаг усталостных бороздок может составлятьдесятые, а то и сотые доли микрона.8.23. РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯМИКРОСКОПИЯ ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯИЗЛОМОВРастровые электронные микроскопы(РЭМ) созданы для прямого наблюдения развитых,рельефных элементов поверхности свысокой глубиной резкости. Благодаря этомуприменительно к поверхности излома при достижениивысоких уровней увеличения вплотьдо сотен тысяч крат могут быть выявлены иразличимы элементы рельефа излома, отстоящиедруг от друга на значительном расстояниии расположенные в разных плоскостях.764 Глава 8.2. МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ ИЗЛОМ ОВПри наличии на поверхности разрушенияэлементов, которые накапливают электроны,возникает необходимость работы при низкомвакууме (непроводящие объекты плохо откачиваются)и наблюдении объекта при низкомускоряющем напряжении (меньше заряжаетсяобъект). Непроводящие элементы, как правило,это — оксиды, разного рода органическиевещества (например, краски) и иные загрязненияповерхности. Образование оксидов являетсяповерхности. Образование оксидов является