Май 10th, 2013
на исследуемый объект, происходит выбиваниеэлектронов из внешних и внутренних орбиталейатомов на поверхности. В аппаратуредля электронной спектроскопии анализируютсякинетическая энергия и количество этихэлектронов. Подобно другим спектроскопическимметодам исследования на основании получаемыхэлектронных спектров возможенкачественный и количественный анализ химическогосостава веществ. Принцип примененияметодов электронной и ионной спектроскопиидля исследования поверхности образцов и, вчастности, поверхности изломов основан назависимости глубины выхода этих частиц отих кинетической энергии. Рентгеновское характеристическоеизлучение имеет глубинуЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ ДЛЯ Ф РАКТОГРАФ ИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЙ 767Рис. 8.2.11. Оцифрованные изображения, полученные в РЭМ фирмы «Карл Цейс»:а — участка излома с усталостными бороздками (клемма из медного сплава);б — у ч а с т к а излома с усталостными мезолиниями (корпус гидроагрегатав системе управления полетом, сплав АЛ9)768 Глава 8.2. МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ ИЗЛОМ ОВвыхода до 1 0 нм, в то время как длина свободногопробега электрона ограничена 1 0 нм, адля упругорассеянных ионов соответствуетмонослою на поверхности. Именно эти основныеположения и предопределяют большуюповерхностную чувствительность методовэлектронной и ионной спектроскопии по сравнениюэлектронной и ионной спектроскопии по сравнению
