ориентировке и фокусировке выбранной площадкина изломе

ориентировке и фокусировке выбранной площадкина изломе по отношению к оптическойоси микроскопа. Наиболее удобно и просто этодостигается путем укрепления образца с изломомна стеклянной пластине в пластилине,которая устанавливается на предметный столикмикроскопа. Изменяя положение образца впластилине, можно достигнуть разной степенинаклона микроучастков излома к плоскостипредметного столика микроскопа. При исследованииповерхностей излома с увеличениемдо х500 можно использовать шарнирные приспособления,например, простое в изготовленииприспособление Н.Н. Поповой.Одним из недостатков световой микрофрактографии,особенно при исследовании изломовсо значительной шероховатостью, являетсяневозможность одновременного исследованиядостаточно больших участков поверхности.Изучаются отдельные участки изломов,ориентированные перпендикулярно оптическойоси микроскопа. Наклонные участки поверхностиизлома практически невозможноисследовать, особенно при увеличении свышех500, так как при этом применяются объективыс малым фокусным расстоянием и наклонсамой поверхности нс может быть осуществлен.В ряде случаев приходится спиливатьвыступающие грани излома.В связи с этим световая микрофрактографиянс получила большого развития.Тем нс менее исследование поверхностейизломов с помощью оптических микроскоповможет быть полезно, особенно если неможет быть полезно, особенно если не