Май 10th, 2013
Световая (оптическая) фрактография -это изучение строения излома с помощью светового(оптического) микроскопа при увеличенииот хЮ до хЮОО крат. При увеличенияхот 1 0 до 1 0 0 используют термин «макрофрак-тография», а при увеличениях от 1 0 0 до 1 0 0 0 -«микрофрактография».Преимущественной областью применениясветовой микрофрактографии являются:исследование кинетики разрушения, изучениеособенностей строения излома в зависимостиот вида и характера нагружения, а также исследованияс этих позиций эксплуатационныхразрушений.Исследования проводятся на обычныхсветовых металлографических микроскопах.Исследуемая поверхность излома должнабыть предварительно очищена ацетоном. В томслучае, если предполагается или заведомо известно,что разрушенная деталь (образец) подвергласьвоздействию агрессивной среды, поверхностьизлома исследуется как без очистки,так и после снятия оксидных пленок. Химическоеили электролитическое травление можноприменять в особых случаях, например, принеобходимости выявить границы зерен, крупныечастицы избыточных фаз, для снятияокисных плен и т.д. При этом надо учитывать,что возможны некоторые искажения профиляизлома, в связи с чем излом должен сначалаисследоваться до травления, а потом посленего.Основное методическое затруднение присветовой микрофрактографии заключается в
