16.05.2013 - условная ширина Дд» и условная высота Д// (рис. 12
условная ширина Дд" и условная высота Д// (рис. 12.Н)....
16.05.2013 - Чувствительность метода предполагает способность выявлять
Чувствительность метода предполагает способность выявлять заданные дефекты определенного вида при данной настройке аппаратуры н принятой методике поиска.
Признаками наличия дефектов при УЗК являются:• превышение амплитуды отраженного сигнала при заданном уровне фиксации (при эхо-методе):• ослабление амплитуды прошедшего сигнала ниже заданного уровня (при теневом методе);• ослабление амплитуды сигнала, отраженного от противоположной грани изделия (донного сигнала) или от какого-либо экрана (при зеркально-теневом методе).Все...
16.05.2013 - 12.6.При контактном способе зазор между i шучающей
12.6.При контактном способе зазор между i шучающей плоскостью искателя и поверхностью изделия заполняют контактирующей средой, в качестве которой применяются минеральные масла, солидол, вода, спирт, технический глицерин....
16.05.2013 - При зеркально-теневом методе (рис. 12.5. б) дефект
При зеркально-теневом методе (рис. 12.5....
16.05.2013 - I категория — 20% протяженности шва;П категория -
I категория - 20% протяженности шва;П категория - 5% протяженности шва;111 категория - 2% протяженности шва.
После проявления пленки производится ее оценка по 3-балльиой шкале. Критерии оценки балльности приведены в соответствующей технической документации (правилах контроля, правилах Регистра и т....
16.05.2013 - От выбора фокусного расстояния зависит производительность
От выбора фокусного расстояния зависит производительность контроля и минимальные размеры выявляемого дефекта.Чувствительность контроля определяют визуально как минимальную величину элемента эталона чувствительности, различимую на радиографическом снимке. Эталон чувствительности (рис....
16.05.2013 - Рентгеновское излучение генерируется при торможении
Рентгеновское излучение генерируется при торможении на аноде потока электронов, испускаемых катодом.у-излучение (длина волны 10 .....
16.05.2013 - Наличие в материале дефектов размером ДА-приводит
Наличие в материале дефектов размером ДА-приводит к резкому изменению энергии и интенсивности выходного пучка излучения; выходящий пучок несет дефектоскопическую информацию о внутренней структуре контролируемого материала.Источником излучения могут быть промышленные рентгеновские аппараты или гамма-дефектоскопы, заряженные радиоактивными изотопами.Существуют три метола радиационного коитро....
