15.04.2013 - Двумерные координатные детекторы(ДКД) позволяют сделать
Двумерные координатные детекторы(ДКД) позволяют сделать видимой картинудифракции не только в зависимости от угладифракции 2 0 , но и в тангенциальном направлении,заменяя, таким образом, рентгеновскуюпленку. Современные ДКД представляютсобой CCD-детекторы (Charge-Coupled-Device). В люминофоре детектора, закрытомбериллисвой фольгой, поглощенные РЛ возбуждаютфотоны света, которые с помощьюоптических волокон передаются на CCD-чип....
15.04.2013 - интенсивности, параллельны плоскойповерхности образца
интенсивности, параллельны плоскойповерхности образца. "Отражающие" плоскости(hkl) всегда расположены так, что нормальк ним является биссектрисой угла между падающими "отраженным" лучами. Поэтому принесимметричной съемке (см....
15.04.2013 - регистрации в точке. На экране дисплея компьютераотображается
регистрации в точке. На экране дисплея компьютераотображается график зависимости"число зарегистрированных квантов - уголповорота детектора", и эти же данные запоминаютсяЭВМ в виде соответствующей таблицы.Регистрация в режиме шагового сканированияявляется предпочтительной, так какпозволяет сразу получать исходные данные ввиде, удобном для последующей компьютернойобработки....
15.04.2013 - С целью значительного увеличения (напорядок)
С целью значительного увеличения (напорядок) мощности испускаемого трубкойизлучения разработаны рентгеновские трубки,в которых анод вращается с частотой2000......
15.04.2013 - p HKL — Фактор повторяемости, равныйчислу плоскостей
p HKL - Фактор повторяемости, равныйчислу плоскостей (hkl) в совокупности {hkl};А() = S 0/([ik sin а ) - фактор поглощения -объем, отражающий рентгеновские лучи, гдеS 0 - площадь сечения падающего пучка; Уяч -объем элементарной ячейки кристалла.Получение дифракционной картины.В рентгеноструктурном анализе обычно используютизлучение длиной волны 0,05....
15.04.2013 - через который прошло излучение
через который прошло излучение. Математическиэто выражает закон ослабления интенсивностиизлучения слоем толщиной /:где / 0 и / , - соответственно интенсивностипадающего и прошедшего через материал излучения;ц - линейный коэффициент ослабленияРЛ, обратный толщине слоя, ослабляющегоинтенсивность в е раз. Величина ц зависитот химического состава материала, егоплотности и длины волны излучения....
15.04.2013 - максимума ( M B = B N = d hkl sin 9 ) следующее:2
максимума ( M B = B N = d hkl sin 9 ) следующее:2 d hkls \n § = n X . (1.2....
15.04.2013 - Дифракция рентгеновских лучей накристаллах
Дифракция рентгеновских лучей накристаллах. Кристалл представляет собойтрехмерное периодическое расположение частиц(атомов, ионов, молекул, радикалов и т.п....
15.04.2013 - соединения металлов с неметаллами имеютболее сложные
соединения металлов с неметаллами имеютболее сложные решетки.В последнее время многочисленные исследованияпосвящены изучению металлическихматериалов с аморфной структурой.В отличие от кристаллических тел в твердыхтелах с аморфной структурой упорядоченное1....
15.04.2013 - Для кубической сингонииdhklдля гексагональной сингонииПлоскости
Для кубической сингонииdhklдля гексагональной сингонииПлоскости (hkl), имеющие одинаковыемежплоскостные расстояния, но различно ориентированныев пространстве, принадлежат кодной совокупности плоскостей hkl.При нахождении индексов направлениянеобходимо учитывать, что все параллельныемежду собой направления в решетке считаютсякристаллографически идентичными. Подиндексами данного направления понимают трицелых взаимно простых числа и, v, w, пропорциональныхкоординатам любого узла, лежащегона направлении, проходящем через...
