15.04.2013 - начала мартенситного превращенияпри деформировании
начала мартенситного превращенияпри деформировании.Необходимость контроля СФФ. В зависимостиот назначения сталей аустенитного иаустенитно-ферритного классов требуемыйуровень их технологических и эксплуатационныххарактеристик может обеспечить отсутствиелибо наличие феррита в строго заданныхпределах....
15.04.2013 - е. примерно 0,4.
е. примерно 0,4.....
15.04.2013 - при их кристаллизации в процессе охлажденияиз жидкого
при их кристаллизации в процессе охлажденияиз жидкого состояния при температуре около1400 °С. Феррит имеет объемно-центрированнуюкубическую решетку. При металлографическоманализе выявляется в структуре стали в видеслучайно распределенных в аустснитной матрицемелких частиц неопределенной, чаще вытянутой,формы и различного размера или в виде участковдендритов....
15.04.2013 - 5 — цилиндрический зеркальный энергоанализатор;6
5 - цилиндрический зеркальный энергоанализатор;6 - вторично-электронный умножитель;7 - усилитель; 8 - одноканальный анализатор;9 - измеритель скорости света; 10 - таймер;11- самописецРФЭС позволяет сочетать методы Ожс- ирентгеноэлектронной спектроскопии, посколькуодновременно наблюдаются Оже- и фотоэмиссия,инициированные рентгеновским излучением,и на рентгеноэлектронном спектререгистрируются как фотоэлектронные, так иОже-пики. Сопоставление химических сдвиговдля сходственных пиков позволяет судить оразличиях в начальном и конечном...
15.04.2013 - разрешающая способность фотоэлектронногоспектрометра
разрешающая способность фотоэлектронногоспектрометра зависят от энергораспрсделенияизлучения. Обычно в качестве источника используютмагниевый, алюминиевый, натриевыйили иттриевый анод рентгеновской камеры.Работа рентгеновских монохроматоров,используемых в фотоэлектронных спектрометрах,основана на дифракции рентгеновскоголуча в изогнутом по дуге кристалле....
15.04.2013 - фотоэлектронов, системы управления
фотоэлектронов, системы управления.Структурная схема фотоэлектронногоспектрометра представлена на рис. 1....
15.04.2013 - эмитируемых твердыми теламипри облучении потоком монохроматическогоизлучения
эмитируемых твердыми теламипри облучении потоком монохроматическогоизлучения. Работу выхода (р определяют поформулеБолее точно (р определяют по зависимостифототока / от частоты электромагнитногоизлучения v :где h - постоянная Планка; к - коэффициент,характеризующий взаимосвязь поглощенияпадающего излучения и вероятность выходаэлектронов; v min - пороговое значение частотыизлучения, при котором возможен фотоэффект;Ф - табулированная функция.Эффективная глубина выхода фотоэлектроновхарактеризует толщину приповерхностногослоя (1....
15.04.2013 - 0,2 %) для энергийанализируемых Оже-электронов 150
0,2 %) для энергийанализируемых Оже-электронов 150......
15.04.2013 - 1 — электронная пушка; 2 — электронныйумножитель;
1 - электронная пушка; 2 - электронныйумножитель; 3 - синхронный детектор; 4 - генераторсинусоидального напряжения;5 - двухкоординатный самопишущий потенциометр;6 - генератор пилообразного напряженияпосредством пропускания элементов с энергией,соответствующей Оже-переходу данногохимического элемента через энергоанализатор.Площадь сканирования не более 0,5x0,5 мм2.Анализаторы для послойного анализаснабжаются ионными пушками, состоящимииз источника ионов с внешним магнитнымконцентратором, системы вытягивания ифокусировки, системы...
15.04.2013 - сверхвысоковакуумной (давление не более1,33-10-8 Па
сверхвысоковакуумной (давление не более1,33-10-8 Па) камеры с электронной пушкой,энергоанализатора, системы регистрации. Современныеприборы дополнены манипуляторамидля крепления и юстировки образца, системамиионной бомбардировки и термическойочистки поверхности образца и шлюзования,приспособлениями для ломания или сколаобразцов в вакууме.В растровых Оже-спектрометрах используетсяустройство сканирования электронногопучка по поверхности....
