15.04.2013 - 26 Глава 1
26 Глава 1.1. МЕТОДЫ И СРЕДСТВА ОПРЕДЕЛЕНИЯ ХИМИЧЕСКОГО СОСТАВАПеревод определяемых элементов в газовуюфазу осуществляется следующим образом....
15.04.2013 - состоит в максимально полном извлеченииопределяемого
состоит в максимально полном извлеченииопределяемого элемента в газовую фазу с последующимопределением состава и количествавыделившихся газов.Для определения содержания газов в металлахс помощью высокотемпературных процессовразработаны различные приборы. Выбороптимального метода экстракции для каждогоконкретного вида аппаратуры зависит отприроды и размера пробы, определяемых элементов,требований к чувствительности, точности,экспрсссности, стоимости анализа и др....
15.04.2013 - изучение взаимодействия деталей со средой
изучение взаимодействия деталей со средой.Анализ неоднородности распределенияэлементов позволяет изучать сегрегации, возникающиепри затвердевании или в процессетермообработки, кинетику выделения и растворенияфаз.Возможности МАР значительно расширилисьблагодаря использованию сканированияи получению изображения одного участкаобъекта во вторичных и отраженных электронах,а также в РИ с последующим проведениемкачественного и количественного элементногоанализа в выбранных точках....
15.04.2013 - МАР. Анализируемая поверхность должнабыть плоской
МАР. Анализируемая поверхность должнабыть плоской, без рисок и рельефа, иначе интенсивностьРИ из-за изменения пути, проходимогов образце, может измениться на несколькопроцентов, что недопустимо при количественноманализе.Шлиф следует готовить с применениемалмазной пасты и "мокрого" полирования, апосле этого тщательно промывать....
15.04.2013 - точно известно
точно известно.Рис. 1....
15.04.2013 - на экране дисплея в координатах «числорентгеновских
на экране дисплея в координатах "числорентгеновских квантов - энергия кванта". ДляРис. 1....
15.04.2013 - Рентгеновские спектрометры
Рентгеновские спектрометры. Спектрометрыволновой дисперсии основаны натом, что кристалл-анализатор (монокристалл сплоскостью среза ( h k l)) отражает рентгеновскоеизлучение с длиной волны X под определеннымуглом 0 в соответствии с условиемВульфа-Брэгга 2*4wsin0 = пХ. В связи с тем,что диапазон регистрируемых длин волн велик(рис....
15.04.2013 - • электронно-оптической системы дляполучения на образце
• электронно-оптической системы дляполучения на образце сфокусированного пучкаэлектронов диаметром от 0,005 до 1 мкм сэнергией, варьируемой оператором от 5 до50 кэВ*;*Эта часть практически одинакова для МАР ирастрового электронного микроскопа (РЭМ). Поэтомусовременные приборы могут работать как МАР икак РЭМ с возможностью получать изображение вРИ (см. рис....
15.04.2013 - (Z = 4) (в некоторых приборах от Li) доурана (Z =
(Z = 4) (в некоторых приборах от Li) доурана (Z = 92).Локальность анализа определяется размеромтого объема образца, в котором возбуждаетсяРИ. Она отчасти зависит от диаметразонда и энергии электронов, но в большей степениопределяется проникающей способностьюрентгеновских лучей и не может бытьменьше, чем 0,5....
15.04.2013 - анализа, а также тщательная подготовкапроб к анализу
анализа, а также тщательная подготовкапроб к анализу. Проба (желательно в виде цилиндрадиаметром до 20.....
