15.04.2013 - объектов возможно, если не допуститьобразования описанного
объектов возможно, если не допуститьобразования описанного выше заряда поверхности.Это можно осуществить тремя способами:1) нанести на поверхность тонкое(10.....
15.04.2013 - как в световой микроскопии, на поверхностишлифа травлением
как в световой микроскопии, на поверхностишлифа травлением создается рельеф. Однако,в связи с большей глубиной фокуса в РЭМ,глубина травления выбирается больше. Продуктытравления (особенно неэлектропроводные)следует удалить....
15.04.2013 - изменение электрических свойств образца
изменение электрических свойств образца.Подготовка образцов для исследованияв РЭМ. Образец по размерам долженсоответствовать камере объектов, чтобы непрепятствовать необходимым перемещениям....
15.04.2013 - Отражения» электронов г\ от атомного номераэлемента
Отражения" электронов г\ от атомного номераэлемента Z68 Глава 1.2. МЕТОДЫ И СРЕДСТВА ИССЛЕДОВАНИЯ СТРУКТУРЫэтой области на порядок больше размера зонда,разрешение изображения в ОЭ составляетоколо 50....
15.04.2013 - поверхности. Наибольшее число электроноввыходит из
поверхности. Наибольшее число электроноввыходит из области выступов, наименьшее -из впадин. Поэтому выступы на изображенииоказываются светлее впадин....
15.04.2013 - изменения среды (атмосферы) и т.п.Формирование изображения
изменения среды (атмосферы) и т.п.Формирование изображения в РЭМ(типы контраста)....
15.04.2013 - на него электронов с энергией 10 кэВРис
на него электронов с энергией 10 кэВРис. 1.2....
15.04.2013 - (разрешение 0,5
(разрешение 0,5......
15.04.2013 - генератором сканирования
генератором сканирования. Таким образом,точка экрана ЭЛТ соответствует определеннойточке площади, обегаемой зондом на объекте.Яркость свечения ЭЛТ в каждой точкемодулируется усиленным сигналом детектора....
